Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Гольц Л.Г. Вольтамперометрическое определение рения в минеральном и техногенном сырье : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Л. Г. Гольц, 2006. - 22 с. - Текст : непосредственный.Романенко С.В. Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / С. В. Романенко, 2006. - 44 с. - Текст : непосредственный.Никитина Д.В. Ионные ловушки в динамической масс-спектрометрии : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. В. Никитина, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный.Кирющенков Е.Н. Каталитические и сорбционно-каталитические методы определения металлов с использованием реакции окисления 3,3',5,5'-тетраметилбензидина периодатом : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Е. Н. Кирющенков, 2006. - 25 с. - Текст : непосредственный.Заруцкий И.В. Алгоритмы и программы первичной обработки масс-спектрометрических сигналов для автоматизации изотопного и элементного анализа : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. В. Заруцкий, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный.Фрезениус, Карл Ремигий. Руководство к качественному химическому анализу : монография / Р. Фрезениус, 1864. - III, 652, XI с. - Текст : непосредственный.Бурылин М.Ю. Атомно-абсорбционное определение гидридобразующих и легколетучих элементов в объектах окружающей среды - проблемы и аналитические решения : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / М. Ю. Бурылин, 2008. - 45 с. - Текст : непосредственный.Количественные методы в масс-спектрометрии / И. Лаваньини, Ф. Маньо, Р. Сералья, П. Тральди, 2008. - 175 с. - Текст : непосредственный.Сараева С.Ю. Графитсодержащие сенсоры в инверсионной вольтамперометрии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Сараева, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный.Cyganski A. Metody spektroskopowe w chemii analitycznej / A. Cyganski, 1993. - 378 s. - Текст : непосредственный.Сильверстейн Р. Спектрометрическая идентификация органических соединений / Р. Сильверстейн, Ф. Вебстер, Д. Кимл, 2012. - 557 с. - Текст : непосредственный.Задачник по аналитической химии / Н. Ф. Клещев, Е. А. Алферов, Н. В. Базалей, 1993. - 223 c. - Текст : непосредственный.Нехаевский С.Ю. Экстракция хлоридов кадмия и цинка три-н-бутилфосфатом : специальность 05.17.02 "Технология редких, рассеянных и радиоактивных элементов" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Нехаевский, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Окотруб А.В. Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия высокого разрешения с использованием органических кристаллов-анализаторов и анализ электронной структуры молекулярных и конденсированных соединений 2P-элементов : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / А. В. Окотруб, 2000. - 40 с. - Текст : непосредственный.Bender C.J. Computational and instrumental methods in EPR / C. J. Bender, L. J. Berliner, 2007 r=on-lineMartin D.K. Nanobiotechnology of biomimetic membranes / D. K. Martin, 2007 r=on-lineVerma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Васильев В.П. Аналитическая химия : Учебник для студентов вузов по хим.-технол.спец. Кн. 1(2007) : Титриметрические и гравиметрический методы анализа, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный.Твердофазная колориметрия / С. В. Качин, О. Н. Кононова, О. П. Калякина, 1997. - 101 с. - Текст : непосредственный.Гусев А.Я. Времяпролетный масс-спектрометр с увеличенной эффективной областью собирания ионов / А. Я. Гусев, В. А. Кочнев, Г. Г. Манагадзе, 1991. - 26 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСпециальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный.Козловский В.Н. Информация в импульсной рентгенографии / В. Н. Козловский, 2006. - 304 с. - Текст : непосредственный.
Кузьмичева, Г. М. Рентгенография наноразмерных объектов : учеб. пособие. Ч. 2, 2010. - 80 с. - Текст : непосредственный.Нахмансон М.С. Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами / М.С.Нахмансон,В.Г.Фекличев, 1990. - 357 c. - Текст : непосредственный.Хритохин Н.А. Рентгенография : Учеб. пособие / Н. А. Хритохин, А. В. Кертман, О. В. Андреев, 1993. - 70 с. - Текст : непосредственный.Вегман Е.Ф. Кристаллография, минералогия, петрография и рентгенография : Учеб. пособие для металлург. спец. вузов / Е. Ф. Вегман, Ю. Г. Руфанов, И. Н. Федорченко, 1990. - 261 с. - Текст : непосредственный.Китайгородский А.И. Рентгеновские лучи и рентгеновские методы исследования / проф. А. И. Китайгородский, 1948. - 46, [2] с. - Текст : непосредственный.Симанов, Юрий Петрович. Практические работы по рентгенографии : учебное пособие для студентов химических факультетов государственных университетов / Ю. П. Симанов; под редакцией проф. А. В. Фроста, 1950. - 70, [1] с. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Verma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Мазалов Л.Н. Рентгеновские спектры / Л. Н. Мазалов, 2003. - 328 с. - Текст : непосредственный.Алексеев А.В. Развитие метода Дебая-Шеррера для характеризации кристаллических фаз, представленных в микроколичествах / А. В. Алексеев, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Научные школы рентгеновской и рентгеноэлектронной спектроскопии России : монография / Э. П. Домашевская, А. С. Шулаков, В. Л. Сухоруков [и др.], 2015. - 329 с. - Текст : непосредственный.Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Определение свойств веществ и материалов по зависимостям спектр-свойства и цвет-свойства : материалы временных коллективов / "Нефтегазтехнология", науч.-произв. об-ние (Уфа), 1998. - 50 с. - Текст : непосредственный.EXAFS and near edge structure III : материалы временных коллективов / Ed. K. O. Hodgson, 1984. - XV,533 p. p. - Текст : непосредственный.Carr-Brion K. X-ray analysers in process contol / K. Carr-Brion, 1989. - X,161 p. p. - Текст : непосредственный.Дубинин П.С. Разработка отраслевых стандартных образцов химического и фазового состава электролита алюминиевых электролизеров для калибровки рентгеновских измерительных приборов : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / П. С. Дубинин, 2009. - 22 с. - Текст : непосредственный.Пахаруков Ю.В. Рентгеновские методы определения фазового состава в конденсированной среде : выставочные материалы / Ю. В. Пахаруков, 2015. - 47 с. - Текст : непосредственный.Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : выставочные материалы / И. И. Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный.Электронно-зондовый микроанализ, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный.Клюшников О.И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия / О. И. Клюшников, 2016. - 388 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽