Приложение
для AndroidПолное описание
| ГРНТИ | УДК | |
| 31.19.03 | 543.456 | |
| 29.35.43 | ||
| 76.31.35 |
Рубрики:
Микроскопия
Кл.слова (ненормированные): АНОПТРАЛЬНО-КОНТРАСТНЫЙ МЕТОД -- ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ В ПОЛЯРИЗОВАННОМ СВЕТЕ -- МЕТОД НАБЛЮДЕНИЯ В ТЕМНОМ ПОЛЕ -- МЕТОД НАБЛЮДЕНИЯ С ФАЗОВЫМ КОНТРАСТОМ
Аннотация: В лекции освещается метод микроскопии, применяемый в медицине.
Доп. точки доступа:
Московский медицинский институт им. И. М. Сеченова
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д1/58880)
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 24f68c2d417bc654acc5b00b81fad6ed)
Шифр в сводном ЭК: e2dc24ec941198543317032f8b295dde
Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный.Романенко С.В. Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / С. В. Романенко, 2006. - 44 с. - Текст : непосредственный.Никитина Д.В. Ионные ловушки в динамической масс-спектрометрии : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. В. Никитина, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный.Заруцкий И.В. Алгоритмы и программы первичной обработки масс-спектрометрических сигналов для автоматизации изотопного и элементного анализа : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. В. Заруцкий, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный.Фрезениус, Карл Ремигий. Руководство к качественному химическому анализу : монография / Р. Фрезениус, 1864. - III, 652, XI с. - Текст : непосредственный.Бурылин М.Ю. Атомно-абсорбционное определение гидридобразующих и легколетучих элементов в объектах окружающей среды - проблемы и аналитические решения : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / М. Ю. Бурылин, 2008. - 45 с. - Текст : непосредственный.Количественные методы в масс-спектрометрии / И. Лаваньини, Ф. Маньо, Р. Сералья, П. Тральди, 2008. - 175 с. - Текст : непосредственный.Сараева С.Ю. Графитсодержащие сенсоры в инверсионной вольтамперометрии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Сараева, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный.Задачник по аналитической химии / Н. Ф. Клещев, Е. А. Алферов, Н. В. Базалей, 1993. - 223 c. - Текст : непосредственный.Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Martin D.K. Nanobiotechnology of biomimetic membranes / D. K. Martin, 2007 r=on-lineVerma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Васильев В.П. Аналитическая химия : Учебник для студентов вузов по хим.-технол.спец. Кн. 1(2007) : Титриметрические и гравиметрический методы анализа, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Отто М. Современные методы аналитической химии : монография / М. Отто, 2006. - 543 с. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Гунцов А.В. Математическое моделирование процессов электронакопления микроколичеств осадка, осложненных химическими реакциями / А. В. Гунцов, Л. В. Гунцова, А. А. Шилов, 2013. - 79 с. - Текст : непосредственный.Носкова Г.Н. Твердые углеродсодержащие композитные электроды для определения элементов вольтамперометрическими методами : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / Г. Н. Носкова, 2012. - 43 с. - Текст : непосредственный.Новоженов В.А. Термический анализ : учеб. пособие / В. А. Новоженов, Н. Е. Стручева, 2012. - 383 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыКособукин В.А. Метод функций Грина в теории ближнеполевой магнитооптики и сканирующей магнитооптической микроскопии / В. А. Кособукин, 1999. - 64 с. - Текст : непосредственный.Labardi M. Near-field optical microscopy / M. Labardi, P. G. Gucciardi, M. Allegrini, 2000. - 35 p. - Текст : непосредственный.
Грудин Б.Н. Обработка и моделирование микроскопических изображений / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников, 2010. - 349 с. - Текст : непосредственный.Панова Т.В. Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия : учеб. пособие / Т. В. Панова, 2016. - 78 с. - Текст : непосредственный.Наноинженерия : библиотека: учеб.-метод. комплекс по темат. направлению деятельности ННС "Наноинженерия": в 17-ти кн. / под ред. В. А. Шахнова. 12 : Оптическая микроскопия / А. И. Власов, К. А. Елсуков, И. А. Косолапов, 2011. - 181 с. - Текст : непосредственный.Наноинженерия : библиотека: учеб.-метод. комплекс по темат. направлению деятельности ННС "Наноинженерия": в 17-ти кн. / под ред. В. А. Шахнова. 1 : Методы микроскопии / А. И. Власов, К. А. Елсуков, Ю. В. Панфилов, 2011. - 278 с. - Текст : непосредственный.Тимченко Е.В. Цифровая оптическая микроскопия : учеб. пособие / Е. В. Тимченко, П. Е. Тимченко, 2015. - 104 с. - Текст : непосредственный.Кульчицкий Н.К. Учение о микроскопе и техника микроскопического исследования / Н. К. Кульчицкий, 1909. - VIII, 270 с. - Текст : непосредственный.Сороко Л.М. 3D inspection by conical wavefronts / Л.М.Сороко, 2002. - 18 p. - Текст : непосредственный.La rivista del nuovo cimento. Ser.3-4. Vol. 27,N 1 : Apertureless near-field optical microscopy / Patane S., Gucciardi P. G.Labardi M.Allegrini M., 2004. - 45 p. - Текст : непосредственный.Дюков В.Г. Растровая оптическая микроскопия / В.Г.Дюков,Ю.А.Кудеяров, 1992. - 207 с. - Текст : непосредственный.Analysis of a three-dimensional point pattern with replication / A.J.Baddeley,R.A.Moyeed,Howard C.V.,A.Boyde, 1991. - 37 p. - Текст : непосредственный.Грудин Б.Н. Моделирование и анализ изображений в электронной и оптической микроскопии / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников, В. К. Фищенко, 2001. - 221 с. - Текст : непосредственный.Кретушев А.В. Обработка и анализ фазовых изображений : учеб. пособие / А. В. Кретушев, 2014. - 63 с. - Текст : непосредственный.Advances in optical and electron microscopy. Vol. 11, 1989. - XI, 185 p. 185 p. - Текст : непосредственный.Gu M. Advanced optical imaging theory / M.Gu, 2000. - XII,214 p. p. - Текст : непосредственный.Роскин Г.И. Микроскопическая техника : учебное пособие для вузов / проф. Г. И. Роскин, 1946. - 326, [2] с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Кочаков В.Д. Основы атомно-силовой наноскопии : учебное пособие / В. Д. Кочаков, А. В. Еремкин, 2010. - 55 с. - Текст : непосредственный.Thomas J. Analytical Transmission Electron Microscopy. An Introduction for Operators / J. Thomas, T. Gemming, 2014 r=on-line. - Текст : электронный.Сазанова Т.С. Атомно-силовая микроскопия: принцип, устройство, применение : выставочные материалы / Т. С. Сазанова, И. В. Воротынцев, 2016. - 107 с. - Текст : непосредственный.Атомно-силовая микроскопия: от теории к практике / Т. С. Сазанова, А. В. Воротынцев, А. Н. Петухов [и др.], 2018. - 121 с. - Текст : непосредственный.Халисов М.М. Применение атомно-силовой микроскопии для детектирования отклика нативных клеток на внешние воздействия : специальность 01.04.01 - Приборы и методы экспериментальной физики: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / М. М. Халисов, 2018. - 22 с. - Текст : непосредственный.Халисов М.М. Применение атомно-силовой микроскопии для детектирования отклика нативных клеток на внешние воздействия : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 01.04.01 / М. М. Халисов, 2017. - 21 с. - Текст : непосредственный.Молчанов С.П. Многопараметрическая атомно-силовая микроскопия в физико-химических исследованиях микро- и нанообъектов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 02.00.04 / С. П. Молчанов, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный.Жуков М.В. Наноструктурированные зонды для сканирующей силовой микроскопии: создание, исследование, применение : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.01 / М. В. Жуков, 2017. - 20 с. - Текст : непосредственный.Калинин А.С. Методы атомно-силовой микроскопии для неразрушающего анализа электромеханических свойств наноструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / А. С. Калинин, 2017. - 18 с. - Текст : непосредственный.Voigtländer B. Scanning Probe Microscopy. Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / B. Voigtländer, 2015 r=on-line. - Текст : электронный.Андреева Н.В. Экспериментальные методы исследования. Методики туннельной и атомно-силовой микроскопии : учеб. пособие / Н. В. Андреева, П. Г. Габдуллин, А. М. Журкин, 2015. - 104 с. - Текст : непосредственный.Ефименко Л.П. Исследование материалов и покрытий методам атомно-силовой микроскопии / Л. П. Ефименко, В. А. Жабрев, К. Э. Пугачев, 2010. - 51 с. - Текст : непосредственный.Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products / Ed. W. R. Bowen, 2009. - XVI, 283 p. - Текст : непосредственный.Няпшаев И.А. Атомно-силовая микроскопия механических свойств различных наносистем : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / И. А. Няпшаев, 2013. - 21 с. - Текст : непосредственный.Маловичко И.М. Нерезонансные прерывисто-контактные методы атомно-силовой микроскопии : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / И. М. Маловичко, 2015. - 24 с. - Текст : непосредственный.Канаметов А.А. Электростатическое и ван-дер-ваальсово взаимодействие зондов атомно-силового микроскопа с поверхностями : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / А. А. Канаметов, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный.Соловьев И.Д. Получение мономерной формы флуоресцентного белка SAASoti и применение его в методах субдифракционной корреляционной микроскопии : 03.01.04 Биохимия: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук / И. Д. Соловьев, 2019. - 24 с. - Текст : непосредственный.Тимощук К.И. Методики исследования мягких объектов в атомно-силовой микроскопии : специальность 01.04.01 - Приборы и методы экспериментальной физики: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / К. И. Тимощук, 2019. - 17 с. - Текст : непосредственный.Корнеев Д.В. Атомно-силовая спектроскопия одиночных вирусных частиц и их субъединиц : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 03.01.02 / Д. В. Корнеев, 2016. - 30 с. - Текст : непосредственный.Noncontact atomic force microscopy : vol. 2 / SpringerLink (Online service), 2009 r=on-line. - Текст : электронный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания