Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Физика и техника полупроводников / Российская академия наук, Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). - Журнал выходит с 1967г. - Текст : непосредственный.Солнечный цикл : сборник / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1993. - 198 c. - Текст : непосредственный.Анатолий Робертович Регель (1915-1989) : Жизнь и научная деятельность:Очерки / Рос.АН.Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. 3, 1995. - 57 с. - Текст : непосредственный.Аморфные и микрокристаллические полупроводники : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1998. - 165 с. - Текст : непосредственный.Магнитные поля Солнца и гелиосейсмология : сборник научных трудов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1994. - 188 c. - Текст : непосредственный.Термоэлектрики и их применения : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2004. - 474 с. - Текст : непосредственный.Международная зимняя школа по физике полупроводников. 2015 : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2015. - 61, [3] с. - Текст : непосредственный.Анатолий Робертович Регель (1915-1989) : Жизнь и научная деятельность:Очерки / Рос.АН.Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. 2, 1992. - 51 с. - Текст : непосредственный.Голографические оптические элементы и системы : сборник / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1994. - 134 c. - Текст : непосредственный.Международная зимняя школа по физике полупроводников. 2015 : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2015. - 61 с. - Текст : непосредственный.Термоэлектрики и их применение : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2013. - 588 с. - Текст : непосредственный.Детонационные наноалмазы. Технология, структура, свойства и применения / А. Е. Алексенский, М. В. Байдакова, И. И. Власов [и др.], 2016. - 381 с. - Текст : непосредственный.Амусья М.Я. АТОМ-М. Алгоритмы и программы для исследования атомных и молекулярных процессов / М. Я. Амусья, С. К. Семенов, Л. В. Чернышева, 2017. - 550 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный.Сойфер Г.Б. ЯКР спектроскопия и молекулярные движения в твердых телах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Г. Б. Сойфер, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный.Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный.Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный.Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный.Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron scattering in solid matter / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineTorok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный.Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный.Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыPapers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный.
XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : РЭМ'99, июнь 1999 г.Тез. докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (11 ; 1999) , 1999. - 145 с. - Текст : непосредственный.Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : П Всерос.семинар с участием зарубеж.ученых,Казань,5-7 апр.1995 г.Материалы семинара / Российский фонд фундаментальных исслед. (Москва), 1995. - 142 c. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 1, 1998. - 653,XII p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 2, 1998. - 661-1288,XII p. p. - Текст : непосредственный.XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ-2011 : 30 мая - 2 июня 2011 г.: тезисы докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (17 ; 2011 ; Черноголовка) , 2011. - 279 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽