Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Bohne C. Mikrostruktur, Eigenspannungszustand und Korrosionsbestandigkeit des kurzzeitlaserwarmebehandelten hochstickstofflegierten Werkzeugstahls X30CrMoN 15 1 / C. Bohne, 2000. - VII, 127 S. 127 S. - Текст : непосредственный.Gall S. Admittanzspektroskopische Untersuchungen des a-Si:H/c-Si-Heterouberganges im Hinblick auf photovoltaische Anwendungen / S. Gall, 1997. - II,148 p. p. - Текст : непосредственный.Neutron-scattering instrumentation at the research reactor BER II, 1996. - 50 p. - Текст : непосредственный.Krauser J. Wasserstoff im MOS-System:Bestimmung der Konzentration,Verteilung und Dynamik des Wasserstoffs mit Hilfe der 15N-Methode / J. Krauser, 1996. - 169 S. - Текст : непосредственный.Krappe H.J. Generalizations of Kramers' rate formula : сборник научных трудов / H. J. Krappe. - 21 p. - Текст : непосредственный.Axmann A. Wahl des Moderators fur die Kalte Neutronenquelle des BER II / A. Axmann, K. Gobrecht. - 24 S. - Текст : непосредственный. Kowsky T. Lineare Integralgleichungen 1.Art JbaK(s,t).y(t)dt=f(s) / T. Kowsky, J. Grzanna, 1994. - 29 S. - Текст : непосредственный.Radke R.E.C. Strahlenschadigung in MOS-Varaktoren bei tiefen Temperaturen / R. E.C. Radke, 1993. - 110 S. - Текст : непосредственный.Hoinkis E. The diffusion of Ag in the graphitic matrices A3-3 and A3-27 / E. Hoinkis, 1994. - 60 p. - Текст : непосредственный.HIS(Hydrogen in Solids), 1994. - III,114 S. S. - Текст : непосредственный.Radiologische Auswirkungen eines Flugzeugabsturzes auf den Forschungsreaktor BER II : сборник научных трудов / A. Axmann, R. Bohnert, J. Ehrhardt, I. Hasemann, 1994. - 77 S. - Текст : непосредственный.Das Ionen-Strahl-Labor am HMI / Ionenstrahllaboratorium (Berlin), 1994. - 65 S. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Ткачевская Г.Д. Применение микрорентгеноспектрального анализа и растровой микроскопии в металловедении / Г. Д. Ткачевская, Е. А. Шур, 1989. - 50 c. - Текст : непосредственный.Тюрин А.Г. Термодинамика химической и электрохимической устойчивости сплавов : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / А. Г. Тюрин, 2008. - 40 с. - Текст : непосредственный.Нестерович Ю.И. Разработка метода и средства термоэлектрического контроля металлов и сплавов : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ю. И. Нестерович, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный.Количественная оценка структуры в радиационном материаловедении / В. Ю. Шишин, В. К. Бутвин, Е. П. Клочков, 1991. - 33 с. - Текст : непосредственный.Роганин М.Н. Взаимосвязь между изменением прочностных свойств аустенитной хромоникелевой стали 12X18H10T, подвергнутой механико-термическому воздействию, и акустической эмиссией : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / М. Н. Роганин, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный.Шуваев В.А. Определение границ применимости динамического метода измерения твердости переносными твердомерами ударного действия : специальность 01.02.06 "Динамика, прочность машин, приборов и аппаратуры" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / В. А. Шуваев, 2006. - 21 с. - Текст : непосредственный.Микита Г.И. Виброакустическая диагностика видов чугуна и виброакустические диагностические научные центры / Г. И. Микита, 2003. - 92 с. - Текст : непосредственный.Тимофеев В.Л. Структурно-энерго-временной анализ физических объектов: применение в металловедении и механике / В. Л. Тимофеев, 2010. - 369 с. - Текст : непосредственный.Гудков А.А. Комплексное развитие методов определения механических свойств металлических материалов с целью их эффективного использования в промышленности, на транспорте и в строительстве : специальность 05.16.01 "Металловедение и термическая обработка металлов и сплавов" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук в виде науч. докл. / А. А. Гудков, 1998. - 127 с. - Текст : непосредственный.Цветная металлургия..Серия Экономия сырьевых, материальных и топливно-энергетических ресурсов на предприятиях цветной металлургии : Обзор. информ. / ЦНИИ экономики и информ. цв. металлургии. Вып. 1(1990) : Твердые электролиты с кислородной проводимостью и их практическое использование в металлургии / А.Н.Волков,А.С.Липилин,С.Ю.Плинер,М.Р.Бураков, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Известия Волгоградского государственного технического университета. Серия: Сварка взрывом и свойства сварных соединений : межвуз. сб. науч. ст. Вып. 3(2008)№ 3(41), 2008. - 142 с. - Текст : непосредственный.Рабцевич А.В. Определение основных физико-механических характеристик сталей и алюминиевых сплавов методом динамического индентирования : специальность 05.02.11 "Методы контроля и диагностика в машиностроении" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Рабцевич, 2002. - 24 с. - Текст : непосредственный.Инновационные механические испытания металла, подвергаемого технологическому деформированию и термической обработке : монография / Р. Е. Глинер, В. Н. Дубинский, Е. Б. Катюхин [и др.], 2016. - 123 с. - Текст : непосредственный.Овощников М.С. Просвечивание металлов рентгеновскими лучами / М. С. Овощников, 1939. - 143 c. - Текст : непосредственный.Уманский Я.С. Рентгенография / Я. С. Уманский, А. К. Трапезников, А. И. Китайгородский, 1951. - 310 c. - Текст : непосредственный.Buhrer S. Bewertung der Zeitstandschadigung anhand metallographischer Untersuchungen langlaufender Zeitstandproben / S. Buhrer, 1998. - 182 S. - Текст : непосредственный.Reif T. Bestimmung der magnetischen Strukturen in den intermetallischen Verbindungen CeCu2, NdCu2 und DyCu2 mittels elastischer Neutronenstreuung / T. Reif, 1998. - 120 S. - Текст : непосредственный.Могилева Т.Н. Лазерная система для изучения выделения водорода из металлов и сплавов : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Т. Н. Могилева, 1999. - 20 с. - Текст : непосредственный.Солдатов А.А. Аппаратно-программный комплекс для контроля пластически деформированных металлов дифференциальным термоэлектрическим методом / А. А. Солдатов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Деформация растяжения и вязкость разрушения композита с порошковым наполнителем 2014 + 15 об.карбида кремния. - 31 c. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыТкачевская Г.Д. Применение микрорентгеноспектрального анализа и растровой микроскопии в металловедении / Г. Д. Ткачевская, Е. А. Шур, 1989. - 50 c. - Текст : непосредственный.Гойхенберг Ю.Н. Растровая электронная микроскопия в металловедении / Ю. Н. Гойхенберг, В. А. Протопопов, И. В. Лапина, 1997. - 29 с. - Текст : непосредственный.
Васильев Л.И. Просвечивающая электронная микроскопия металлических материалов : Учеб. пособие / Л.И.Васильев,О.А.Приходько, 1990. - 37 с. - Текст : непосредственный.Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров : учебно-методическое пособие / Н. А. Конева, Т. В. Черкасова, Л. И. Тришкина [и др.], 2019. - 135 с. - Текст : непосредственный.Dobrzanski L.A. Mikroskopia swietlna i elektronowa / L.A.Dobrzanski,E.Hajduzek, 1987. - 195 s. - Текст : непосредственный.Миллер М. Зондовый анализ в автоионной микроскопии : Принципы и прил. в материаловеденииПер. с англ. под ред. А. Л. Суворова / М.Миллер,Г.Смит, 1993. - 301 с. - Текст : непосредственный.Ошурина, Л. А. Рентгеноструктурный и электронно-микроскопический анализ : учеб. пособие. Ч. 1, 2010. - 90 с. - Текст : непосредственный.Исламгалиев Р.К. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : учеб. пособие / Р. К. Исламгалиев, 2008. - 111 с. - Текст : непосредственный.Мирзаев Д.А. Определение остаточных напряжений и плотности дислокаций рентгеновским и электронномикроскопическим методами : Учеб. пособие / Д.А.Мирзаев,Ю.Н.Гойхенберг, 1990. - 22 c. - Текст : непосредственный.Hofmann D. Quantitative hochauflosungselektronenmikroskopie an Zwillingskorngrenzen in kfz Metallen : Diss. / D.Hofmann, 1995. - 117 S. - Текст : непосредственный.Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении / Л. М. Утевский, 1973. - 583 с. - Текст : непосредственный.Скотникова М.А. Практическая электронная микроскопия в машиностроении : монография / М. А. Скотникова, 2020. - 84 с. - Текст : непосредственный.Camus E. Statische Auswertung von FIM-AP-Tiefenprofilen / E.Camus,C.Abromeit, 1993. - 55 S. - Текст : непосредственный.Завалищин, Александр Николаевич. Использование электромагнитных волн при анализе металлов : учебное пособие / А. Н. Завалищин, М. И. Румянцев, 2023. - 175 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Ткачевская Г.Д. Применение микрорентгеноспектрального анализа и растровой микроскопии в металловедении / Г. Д. Ткачевская, Е. А. Шур, 1989. - 50 c. - Текст : непосредственный.Гойхенберг Ю.Н. Растровая электронная микроскопия в металловедении / Ю. Н. Гойхенберг, В. А. Протопопов, И. В. Лапина, 1997. - 29 с. - Текст : непосредственный.
Ермишкин В.А. Микромеханика дефектов в твердом теле при физических воздействиях в колонне ВЭМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.07 / В. А. Ермишкин, 1991. - 35 с. - Текст : непосредственный.Васильев Л.И. Просвечивающая электронная микроскопия металлических материалов : Учеб. пособие / Л.И.Васильев,О.А.Приходько, 1990. - 37 с. - Текст : непосредственный.Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров : учебно-методическое пособие / Н. А. Конева, Т. В. Черкасова, Л. И. Тришкина [и др.], 2019. - 135 с. - Текст : непосредственный.Ошурина, Л. А. Рентгеноструктурный и электронно-микроскопический анализ : учеб. пособие. Ч. 1, 2010. - 90 с. - Текст : непосредственный.Исламгалиев Р.К. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : учеб. пособие / Р. К. Исламгалиев, 2008. - 111 с. - Текст : непосредственный.Мирзаев Д.А. Определение остаточных напряжений и плотности дислокаций рентгеновским и электронномикроскопическим методами : Учеб. пособие / Д.А.Мирзаев,Ю.Н.Гойхенберг, 1990. - 22 c. - Текст : непосредственный.Hofmann D. Quantitative hochauflosungselektronenmikroskopie an Zwillingskorngrenzen in kfz Metallen : Diss. / D.Hofmann, 1995. - 117 S. - Текст : непосредственный.Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении / Л. М. Утевский, 1973. - 583 с. - Текст : непосредственный.Скотникова М.А. Практическая электронная микроскопия в машиностроении : монография / М. А. Скотникова, 2020. - 84 с. - Текст : непосредственный.Гохфельд Н.В. Электронно-микроскопическое изучение атомноупорядочивающихся сплавов на основе Cu-Pd и Cu-Au, подвергнутых интенсивной пластической деформации и последующим отжигам : специальность 01.04.07 - Физика конденсированного состояния: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Гохфельд Николай Викторович, 2019. - 23, [1] с. - Текст : непосредственный.Camus E. Statische Auswertung von FIM-AP-Tiefenprofilen / E.Camus,C.Abromeit, 1993. - 55 S. - Текст : непосредственный.Завалищин, Александр Николаевич. Использование электромагнитных волн при анализе металлов : учебное пособие / А. Н. Завалищин, М. И. Румянцев, 2023. - 175 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Заказ фрагмента документа ₽