Полное описание
Valeri, S.
ГРНТИ УДК 29.31.26 543.428.2
Рубрики: Оже-спектроскопия
Доп. точки доступа: Di Bona, A.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/12165/16,N 5)
Шифр в сводном ЭК: 1a4e15ff3ce3517f31de4d1ce0669ee7
Лев Ф.М. Relativistic quantum mechanics and its applications to few-nucleon systems / Ф. М. Лев, 1993. - 153 p. - Текст : непосредственный. Bellone E. Models in the history of physics / E. Bellone, G. Bruzzaniti, 1992. - 27 p. - Текст : непосредственный. Valkovic V. The use of synchrotron radiation for trace element analysis of biomedical samples / V. Valkovic, G. Moschini, 1993. - 55 p. - Текст : непосредственный. Taxil P. Physics with polarized beams at future colliders / P. Taxil, 1993. - 71 p. - Текст : непосредственный. Casali F. Advanced imaging techniques: a new deal for neutron physics / F. Casali, P. Chirco, M. Zanarini, 1995. - 69 p. - Текст : непосредственный. Fano U. Quantum mechanics: then and since / U. Fano, 1995. - 39 p. - Текст : непосредственный. Lopez-Arias M.T. From regular to choatic states in atomic nuclei / M. T. Lopez-Arias, V. R. Manfredi, L. Salashich, 1994. - 45 p. - Текст : непосредственный. Cremonesi O. Solar neutrinos / O. Cremonesi, 1993. - 141 p. - Текст : непосредственный. Bendiscioli G. Antinucleon-nucleon and antinucleon-nucleus interaction.A review of experimental data / G. Bendiscioli, D. Kharzeev, 1994. - 142 p. - Текст : непосредственный. Varani L. Microscopic theory of electronic noise in semiconductor unipolar structures / L. Varani, L. Reggiani, 1994. - 110 p. - Текст : непосредственный. Braglia G.L. Teoria del trasporto elettronico in gas: processi di rilassamento / G. L. Braglia, 1995. - 162 p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Busch P. The complementarity of quantum observables:theory and experiments / P.Busch,P.J.Lahti, 1995. - 27 p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Михнов С.А. Особенности спектроскопии необлученных и гамма-облученных щелочно-галоидных кристаллов. 1 / С. А. Михнов, 1990. - 48 с. - Текст : непосредственный. Михнов С.А. Особенности спектроскопии необлученных и гамма-облученных щелочно-галоидных кристаллов. Ч.2 / С. А. Михнов, 1990. - 34 с. - Текст : непосредственный. Яшков Д.А. Исследование методов обработки интерферограмм фурье-спектрометра для повышения точности спектрометрической информации : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Д. А. Яшков, 1998. - 21 с. - Текст : непосредственный. Летохов В.С. Лазерная спектроскопия колебательно-возбужденных молекул / В. С. Летохов, В. С. Летохов, Е. А. Рябов, А. А. Макаров, 1990. - 278 c. - Текст : непосредственный. Понуровский Я.Я. Прецизионные измерения контура спектральной линии методами диодной лазерной спектроскопии : специальность 01.04.21 "Лазерная физика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Я. Я. Понуровский, 2000. - 22 с. - Текст : непосредственный. Stenzel O. The physics of thin film optical spectra / O. Stenzel, 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Neutron and x-ray spectroscopy / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line Time-resolved spectroscopy in complex liquids / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-line Мадвалиев Умархон.Разработка новых методов фотоакустической спектроскопии конденсированных сред : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Мадвалиев Умархон, 2007. - 44 с. - Текст : непосредственный. Дацко В.С. Фильтрация спектрометрических сигналов с помощью преобразования Фурье / В. С. Дацко, 1993. - 13 с. - Текст : непосредственный. Проблемы спектроскопии и спектрометрии : вуз.-акад. период. сб. науч. тр. / Урал. федер. ун-т им. первого Президента России Б. Н. Ельцина. Вып. 35, 2016. - 168 с. - Текст : непосредственный. Митюрич Г.С. Фотоакустическая спектроскопия гиротропных сред : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Г. С. Митюрич, 1997. - 32 с. - Текст : непосредственный. Денисов И.П. Спектральные измерения : выставочные материалы / И. П. Денисов, 2010. - 82 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Мазалов Л.Н. Рентгеновские спектры / Л. Н. Мазалов, 2003. - 328 с. - Текст : непосредственный. Андреев В.П. Основы спектроскопии : выставочные материалы / В. П. Андреев, П. С. Соболев, 2015. - 62 с. - Текст : непосредственный. Сурин Л.А. Высокочувствительный внутрирезонаторный микроволновый спектрометр на базе оротрона : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Л. А. Сурин, 1996. - 19 с. - Текст : непосредственный. Кривосенко Ю.С. Влияние динамики ядерной подсистемы на рентгеновские спектры простых молекул и слоистых систем / Ю. С. Кривосенко, 2013. - 16 с. - Текст : непосредственный. Балашов А.А. Разработка и создание Фурье-спектрометров непрерывного сканирования : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / А. А. Балашов, 2005. - 46 с. - Текст : непосредственный. Бичуцкая Е.Н. Оптические и неадиабатические переходы в квазимолекулах Ca - He, Mg - He : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Е. Н. Бичуцкая, 2000. - 22 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Петров В.Н. Электронная оже-спектроскопия с разрешением по спину : учеб. пособие / В. Н. Петров, 2011. - 75 с. - Текст : непосредственный. Петренко А.З. Программное обеспечение для оже-электронной спектроскопии. Программа PROFILE v.1.01 / А.З.Петренко,И.П.Петренко, 1994. - 21 c. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 9(1534) : Технологическое применение электронной оже-спектроскопии : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / Е.В.Мальнева,А.А.Свентицкий, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный. Scanning auger electron microscopy / Ed.: M. Prutton, M. El Gomati, 2006. - XVII, 368 p. - Текст : непосредственный. Wustenhagen V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen, 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный. Inzynieria materialowa : pr. naukowe / Politechnika Warszawska. z. 29 : Spektroskopia elektronowa AES jako narzedzie analityczno-diagnostyczne w inzynierii materialowej / M. Pisarek, 2013. - 97 s. - Текст : непосредственный. Valeri S. Auger electron spectroscopy for structural studies / S.Valeri,A.Di Bona, 1993. - 73 p. - Текст : непосредственный. Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Петров В.Н. Электронная оже-спектроскопия с разрешением по спину : учеб. пособие / В. Н. Петров, 2011. - 75 с. - Текст : непосредственный. Петренко А.З. Программное обеспечение для оже-электронной спектроскопии. Программа PROFILE v.1.01 / А.З.Петренко,И.П.Петренко, 1994. - 21 c. - Текст : непосредственный. Auger spectroscopy and electronic structure : Proc.of the first intern. workshop, Messina Sept.10- 14, 1988 / Ed. G. Gubiotti, 1989. - X, 277 p. 277 p. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 9(1534) : Технологическое применение электронной оже-спектроскопии : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / Е.В.Мальнева,А.А.Свентицкий, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный. Scanning auger electron microscopy / Ed.: M. Prutton, M. El Gomati, 2006. - XVII, 368 p. - Текст : непосредственный. Wustenhagen V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen, 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный. Inzynieria materialowa : pr. naukowe / Politechnika Warszawska. z. 29 : Spektroskopia elektronowa AES jako narzedzie analityczno-diagnostyczne w inzynierii materialowej / M. Pisarek, 2013. - 97 s. - Текст : непосредственный. Valeri S. Auger electron spectroscopy for structural studies / S.Valeri,A.Di Bona, 1993. - 73 p. - Текст : непосредственный. Дронова, Дарья Алексеевна. Комплекс методик анализа профильного распределения химического состава по глубине нанообъектов и тонких пленок методами оже-спектроскопии и времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии : специальность 2.6.6. Нанотехнологии и наноматериалы: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Дронова Дарья Алексеевна, 2023. - 33 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
