Полное описание
> European test conference (2 ; 1991 ; Munich). 2nd European test conference Munich,Apr.10-12,1991 : proc. / ETC'91. - Berlin ; Offenbach : VDI-Verl., 1991. - 532 p. : ill. - ISBN 3-8007-1778-6. - Текст : непосредственный. Библиогр.в конце статей
ГРНТИ УДК 47.01.81 621.384.001.4(063) 47.01.13
Рубрики: Электронные приборы -- Испытание -- Съезды и конференции
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/25016)>
Шифр в сводном ЭК: 48fc7a9d1c74b006be183bc5a180a35c
Радиотехника, электроника и связь : материалы временных коллективов / "Высокие технологии - основа инновационного развития экономики регионов России", форум (2011 ; Омск), 2011. - 547 с. - Текст : непосредственный. Научная сессия ТУСУР - 2007 : материалы докл. Всерос. науч.-техн. конф. студентов, аспирантов и мол. ученых, 3 - 7 мая 2007 г. : в 5-ти ч. Ч. 4, 2007. - 377 с. - Текст : непосредственный. XLIX Научная сессия, посвященная дню радио : Тез докл. Ч. 1, 1994. - 162 с. - Текст : непосредственный. XLIX Научная сессия, посвященная дню радио : Тез докл. Ч. 2, 1994. - 160 с. - Текст : непосредственный. Международная конференция "100-летие начала .. .50-я Научная сессия, посвященная дню радио : Тез.докл. Ч. 1, 1995. - 232 с. - Текст : непосредственный. Международная конференция "100-летие начала .. .50-я Научная сессия, посвященная дню радио : Тез.докл. Ч. 2, 1995. - 328 с. - Текст : непосредственный. Радиотехника и кибернетика : материалы временных коллективов, 2013. - 212 с. - Текст : непосредственный. Forty-seventh annual gaseos electronics conference,Gaithersburg(Md),Oct.18-21,1994 / Gaseous electronics conference (47 ; 1994 ; Gaithersburg,Md) , 1995. - 327-520 p. p. - Текст : непосредственный. Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы временных коллективов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный. Юбилейная 50 научно-техническая конференция : 10-18 мая 2001 г.: Прогр.,Тез.докл. Ч. 1, 2001. - 124 с. - Текст : непосредственный. Юбилейная 50 научно-техническая конференция : 10-18 мая 2001 г.: Прогр.,Тез.докл. Ч. 2, 2001. - 128 с. - Текст : непосредственный. Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный. Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный. Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Материалы московской конференции : В 4-х ч. Ч. 3 : Автоматика и электроника, 1995. - 132 с. - Текст : непосредственный. Актуальные вопросы механики, электроники, физики Земли и нейтронных методов исследований : материалы временных коллективов / Стерлитамакский гос. пед. ин-т, 1997. - 127 с. - Текст : непосредственный. Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты New frontiers in testing : материалы временных коллективов, 1988. - xxx,1005 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
International test conference,Oct.26-30,1991,Nashville(TN):Proc. / ITC, 1991. - XIV,1135 p. p. - Текст : непосредственный. First Asian test symposium,Nov.26-27,1992,Hiroshima : Proc. / ATS'92, 1992. - X,259 p. p. - Текст : непосредственный. Design, automation and test in Europe : Conference and exhibition, Munich, March 13-16, 2001: Proc. / Ed. W. Nebel, 2001. - XXXVI, 829 p. 829 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the seventh international on-line testing workshop, 9-11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy / IOLTW 2001, 2001. - XI,228 p. p. - Текст : непосредственный. Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 3 : Вопросы автоматизации контрольно-диагностических процедур, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный. Integration of test with desigh and manufacturing : Intern.test conf.Sept.1-3,1987,Washington(DC):Proc. / ITC, 1987. - XXXI,1151 p. p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the IEEE European test workshop, ETW 2001, 29 May - June 2001, Stockholm, Sweden / Spons. by IEEE Computer soc. test technology council (TTTC) Link@:oping univ. (LiU), 2001. - XII,147 p. p. - Текст : непосредственный. Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 3rd Europ.conf.on electron and optical beam testing of electronic devices,Sept.1-3,1993,Zurich / ed. A. Birolini, 1994. - XIII,442 p. p. - Текст : непосредственный. Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 5th European conf.on electron..Aug.27-30,1995,Wuppertal,Germany / ed. E. Wolfgang, 1996. - XII,432 p. p. - Текст : непосредственный. Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 1 : Методы и средства диагностирования цифровых устройств, 1990. - 61 c. - Текст : непосредственный. 2nd European test conference Munich,Apr.10-12,1991 : Proc. / ETC'91, 1991. - 532 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the international test conference,Washington,sept.1990 / ITC, 1990. - XIV,1083 p. мкф. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽