• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Иванов, С. А. Низковольтная растровая электронная микроскопия для исследования наноматериалов / С. А. Иванов. - Текст : непосредственный // Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов. - Курск, 2011. - С. 891-902.
    ГРНТИ 29.35.43

    Аннотация: Показано, что низковольтная растровая микроскопия является ценным методом для исследования наноморфологии поверхности.
    Экз-ры полностью 8b5cc9cde03fc315e25603a889a8e88d
    Нет сведений об экземплярах
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -043731-641865)

    Шифр в сводном ЭК: 0d3cae5e6499dc1ce4be822f64b728bb




    Заказ фрагмента документа ₽