Полное описание

Горлов, М. И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / М. И. Горлов, В. А. Сергеев ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Ульяновский государственный технический университет. - 3-е изд., доп. и перераб. - Ульяновск : УлГТУ, 2020. - 470 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - 100 экз. - ISBN 978-5-9795-2000-1. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.13.81	621.382-044.3
47.33	621.382:658.562
	621.382.019.3
	ББК
	31.2

Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Техническая диагностика
Полупроводниковые приборы -- Технический контроль
Полупроводниковые приборы -- Надежность

Кл.слова (ненормированные): ДИАГНОСТИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ -- ДИАГНОСТИЧЕСКИЙ МЕТОД -- ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА -- КАЧЕСТВО -- ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ ИЗДЕЛИЕ -- РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ АППАРАТУРА
Аннотация: В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Доп. точки доступа:
Сергеев, В.А.
Горлова, М. И.\ред.\
Ульяновский государственный технический университет

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-20/76456)

Шифр в сводном ЭК: 01f36192910c5aec1ff51d8e7a0f547e

Заказать
Заказ фрагмента документа ₽