Полное описание
Electron and optical beam testing of electronic devices : proc.of the 5th European conf.on electron...Aug.27-30,1995,Wuppertal,Germany / ed. E. Wolfgang. - Amsterdam : Elsevier, 1996. - XII,432 p. p. : ill. - (Microelectronic engineering, ISSN 0167-9317 ; vol.31,N 1-4,1996). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 47.13.81 621.384.001.4(063)
Рубрики: Электронные приборы -- Испытание -- Съезды и конференции
Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ
Доп. точки доступа: Wolfgang, E.\ed.\
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W8956/Vol.31,N 1-4,1996)
Шифр в сводном ЭК: bbb3ae5d3cb105057715879da2025dd4
Proceedings of the 1st European meeting on integrated ferroelectrics,held in Nijmegen,July 3-5,1995 / European meeting on integrated ferroelectrics (1 ; 1995 ; Nijmegen) , 1995. - 340 p. - Текст : непосредственный. Micro-and nanoengineering 95 : материалы временных коллективов / Ed. J. Perrocheau, 1996. - XVIII,626 p. p. - Текст : непосредственный. Microelectronic Engineering. - Журнал выходит с 1983г. INFOS 2007 : материалы временных коллективов / Conference on insulating films on semiconductors (15th ; 2007 ; Glyfada Athens), 2007. - XII, 1845-2439 p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
The 2010 International workshop on materials for advanced metallization, was held from Mar. 7th to Mar. 10th in Mechelen (Malines), Belgium / International workshop on materials for advanced metallization (2010; Mechelen (Malines)), 2011. - VIII, 536-845 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the 17th International conference on insulating films on semiconductors, June 21-24, 2011, Grenoble, France / International conference on insulating films on semiconductors (17 ; 2011 ; Grenoble) , 2011. - XII, 1044-1657 p. - Текст : непосредственный. MNE 2010 : proc. of the 36th intern. conf. on micro- and nano-engineering, Sept. 19-22, 2010, Genoa, Italy / International conference on micro- and nano-engineering (36th; 2010; Genoa), 2011. - XIX, 1660-2829 p. - Текст : непосредственный. Advanced gate stack technology 2008 : sel. papers from the SEMATECH SPCC 2010 / ed. B. H. Lee, 2011. - 3377-3469, III p. - Текст : непосредственный. IUMRS-ICEM-2010 : materials and devices for future logic technology: papers presented at the Intern. conf. on electronic materials held in Ilsan, Korea from Sept. 22-27, 2010 / International conference on electronic materials (2010; Ilsan), 2012. - VI, 140 p. - Текст : непосредственный. Micro & Nano 2010 : 4th Intern. conf. on micro-nanoelectronics, nanotechnologies & MEMs, Dec. 12-15, 2010, Athens, Greece / International conference on micro-nanoelectronics, nanotechnologies & MEMs (4th; 2010; Athens), 2012. - IX, 172 p. - Текст : непосредственный. 27th annual advanced metallization conference, Albany, NY, Oct. 5-7, 2010 / Advanced metallization conference (27; 2010; Albany, NY), 2012. - VII, 151 p. - Текст : непосредственный. Selected papers from the nanoscale imaging, fabrication and materials modification using ion beams symposium - ICMAT 2011 : and selected papers from the 2011 13th SEMATECH surface preparation and cleaning conference, Austin, Tx, Mar. 21-23, 2011 / ed.: J. van Kan, A. Bettiol, 2013. - 105 p. - Текст : непосредственный. Integrated processing for micro and optoelectronics : Proc.of the symp.D on integrated processing for micro and optoelectronics of the 1993 E-MRS spring meeting conf.,held in Strasbourg,May 4-7,1993 / Ed. Y. I. Nissim, 1994. - VII,91-374 p. p. - Текст : непосредственный. Microcircuit engineering 93 : Proc.of the intern.conf.on microfabrication,Sept.26-29,1993,Maastricht / ME'93, 1994. - 496 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the symposium H the EMRS 2008 spring meeting materials and emerging technologies for non-volatile-memory devices, May 26-30, 2008, Strasbourg, France / Symposium H: materials and emerging technologies for non-volatile-memory devices (2008; Strasbourg), 2008. - IV, 2330-2463 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the 9th conference on insulating films on semiconductors,June 7-10,1995,Villard-de-Lans / INFOS'95, 1995. - XVIII,489 p. p. - Текст : непосредственный. Microcircuit engineering 92 : Proc.of the intern.conf.on microfabrication,held Sept.21-24,1992,Erlangen / Ed.: H. Ryssel, D. Stephani, 1993. - 500 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the 8th biennial conference on insulating films on semiconductors,held June 2-5,1993,Delft / INFOS'93, 1993. - XVI,420 p. p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты New frontiers in testing : материалы временных коллективов, 1988. - xxx,1005 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
International test conference,Oct.26-30,1991,Nashville(TN):Proc. / ITC, 1991. - XIV,1135 p. p. - Текст : непосредственный. First Asian test symposium,Nov.26-27,1992,Hiroshima : Proc. / ATS'92, 1992. - X,259 p. p. - Текст : непосредственный. Design, automation and test in Europe : Conference and exhibition, Munich, March 13-16, 2001: Proc. / Ed. W. Nebel, 2001. - XXXVI, 829 p. 829 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the seventh international on-line testing workshop, 9-11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy / IOLTW 2001, 2001. - XI,228 p. p. - Текст : непосредственный. Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 3 : Вопросы автоматизации контрольно-диагностических процедур, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный. Integration of test with desigh and manufacturing : Intern.test conf.Sept.1-3,1987,Washington(DC):Proc. / ITC, 1987. - XXXI,1151 p. p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the IEEE European test workshop, ETW 2001, 29 May - June 2001, Stockholm, Sweden / Spons. by IEEE Computer soc. test technology council (TTTC) Link@:oping univ. (LiU), 2001. - XII,147 p. p. - Текст : непосредственный. Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 3rd Europ.conf.on electron and optical beam testing of electronic devices,Sept.1-3,1993,Zurich / ed. A. Birolini, 1994. - XIII,442 p. p. - Текст : непосредственный. Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 5th European conf.on electron..Aug.27-30,1995,Wuppertal,Germany / ed. E. Wolfgang, 1996. - XII,432 p. p. - Текст : непосредственный. Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 1 : Методы и средства диагностирования цифровых устройств, 1990. - 61 c. - Текст : непосредственный. 2nd European test conference Munich,Apr.10-12,1991 : Proc. / ETC'91, 1991. - 532 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the international test conference,Washington,sept.1990 / ITC, 1990. - XIV,1083 p. мкф. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
