• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Аналитическая система CompleXRay для рентгеновской диагностики наноструктур / А. Г. Турьянский, В. И. Анисимов, Н. Д. Бейлин [и др.]. - Текст : непосредственный // Нанотехнологии - производству 2012 : тр. VIII науч.-практ. конф., 4-6 апр. 2012 г., Фрязино. - М., 2012. - С. 266-276. - Библиогр.: 14 назв.
    ГРНТИ 90.27.31

    Аннотация: Описана измерительная схема и функциональные возможности аналитического комплекса CompleXRay на базе рентгеновского рефлектометра.
    Доп. точки доступа:
    Турьянский, А.Г.
    Анисимов, В.И.
    Бейлин, Н.Д.
    Герасименко, Н.Н.
    Гижа, С.С.
    Капустянов, В.Е.
    Пиршин, И.В.
    Сенков, В.М.
    Смирнов, Д.И.

    Экз-ры полностью 0d66f02a3136cb50417a90bb998f0645
    Нет сведений об экземплярах
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -080770-005966)

    Шифр в сводном ЭК: 8419c8c3c3dd5339dc64f92a6c67e647




    Заказ фрагмента документа ₽