Приложение
для AndroidПолное описание
Бузунов, Н. В. Исследование инжекционно-термической обработки наноразмерных диэлектрических слоев / Н. В. Бузунов, В. А. Сеничкин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - С. 91-97. - Библиогр.: 4 назв.
ГРНТИ 47.13.81
Аннотация: Исследование влияния температуры на выявление дефектов диэлектриков наноразмерной толщины, подвергшихся инжекционной обработке.
Доп. точки доступа:
Сеничкин, В.А.
Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -546520-441766)
Шифр в сводном ЭК: 11b3eb4253b82197baa321a4a12f3d16
Бузунов Н.В. Метод разработки законов управления нагружателем рулевого колеса при отсутствии "жесткой" связи в системе управления поворотом колесных машин : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.05.03 / Н. В. Бузунов, 2017. - 16 с. - Текст : непосредственный.Бузунов Н.В. Исследование инжекционно-термической обработки наноразмерных диэлектрических слоев / Н. В. Бузунов, В. А. Сеничкин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 91-97
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный.Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный.Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный.Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный.Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный.Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыНаноинженерия-2011 : материалы временных коллективов, 2011. - 226 с. - Текст : непосредственный.Бузунов Н.В. Исследование инжекционно-термической обработки наноразмерных диэлектрических слоев / Н. В. Бузунов, В. А. Сеничкин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 91-97
Наноинженерия-2011 : материалы временных коллективов, 2011. - 226 с. - Текст : непосредственный.Андреев Д.В. Моделирование зарядовых явлений в датчиках ионизирующих излучений на основе структур металл - диэлектрик - полупроводник с наноразмерными диэлектрическими слоями / Д. В. Андреев, А. Д. Головин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 210-214Потехина Л.Н. Разработка и исследование полимерных наномембран для ультрафильтрации вторичного молочного сырья / Л. Н. Потехина. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 7-11.Бурякова Е.В. Параметры размола и размер частиц нанопорошков / Е. В. Бурякова. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 14-16Беспалов Д.М. Механическое поведение пористого нанокристаллического каркаса / Д. М. Беспалов, А. А. Ивашев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 17-21Фомин А.А. Физико-технологические особенности формирования плазмонапылённых наноструктурированных покрытий / А. А. Фомин, А. Б. Штейнгауэр, С. В. Телегин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 26-30Фомин А.А. Оборудование и технология напыления биоактивных наноструктурированных покрытий в производстве дентальных имплантатов / А. А. Фомин, А. Б. Штейнгауэр, С. А. Мезенцов. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 36-39Дружинина В.Н. Диагностика углеродных нанотрубок, модифицированных полианилином / В. Н. Дружинина, Е. Ю. Филатова. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 43-46Коньшин В.А. Фотометрическое исследование растворителя грунтовки ГФ-021, модифицированного углеродным наноматериалом "Таунит М" / В. А. Коньшин, Е. Ю. Филатова. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 47-50Шаков К.Г. Система виброизоляции для нанопрецизионного оборудования / К. Г. Шаков, А. С. Селиваненко. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 51-54Белов Е.С. Особенности техники извлечения ценного металлического сырья в виде наночастиц из промышленных отходов / Е. С. Белов, В. В. Челенко. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 56-59Пчелинцева Н.И. Методы получения и исследования композиционных электродов с наноразмерными кристаллическими зернами / Н. И. Пчелинцева. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 69-71Белова И.В. Эколого-технические аспекты применения наночастиц в технологиях пайки и герметизации микросхем и электронных модулей / И. В. Белова. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 64-68Таланцев А.Д. Влияние намагниченности дельта слоя марганца на поляризацию фотолюминесценции квантовой ямы GaAs/InGaAs/GaAs в гетероструктурах InGaAs/GaAs/delta-‹Mn› / А. Д. Таланцев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 77-79Дмитриев В.Г. Установка контроля и модификации наноразмерных диэлектрических слоев / В. Г. Дмитриев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 87-90Бузунов Н.В. Исследование инжекционно-термической обработки наноразмерных диэлектрических слоев / Н. В. Бузунов, В. А. Сеничкин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 91-97Алмазов Д.В. Времяпролетная методика для исследования наноструктурированных полупроводниковых структур / Д. В. Алмазов. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 98-101Рыбин Н.Б. Исследование разрывов зон в полупроводниковых наноструктурах с квантовыми ямами методом спектроскопии НЧ-шумов / Н. Б. Рыбин, В. Г. Литвинов, С. В. Ермачихин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 102-105Васютин М.С. Влияния электронного облучения на зарядовое состояние наноразмерных диэлектрических пленок МДП-структур / М. С. Васютин, А. В. Романов. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 109-113Васютин Д.С. Генерация и релаксация положительного заряда в наноразмерных плёнках МДП-структур в сильных электрических полях / Д. С. Васютин, И. В. Соловьев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 114-118
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽