Полное описание
> Дмитриев, В. Г. Установка контроля и модификации наноразмерных диэлектрических слоев / В. Г. Дмитриев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - С. 87-90. - Библиогр.: 9 назв. ГРНТИ 47.13.81 Аннотация: Структурная схема и технические характеристики установки контроля и модификации наноразмерных диэлектрических слоёв. >
Экз-ры полностью 9835315c51fb8d0ce74075ae89c8e440 Нет сведений об экземплярах Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -271324-730825)>
Шифр в сводном ЭК: 68d891380033d4366f53d696c02150d3
Дмитриев В.Г. Системы случайных величин / В. Г. Дмитриев, Ю. Г. Ермаченко, 1994. - 64 c. - Текст : непосредственный. Основы линейного программирования / В. Г. Дмитриев, Е. И. Дорошева, Г. В. Савинов, О. А. Сорокина, 2006. - 95 с. - Текст : непосредственный. Современная теория ленточных конвейеров горных предприятий / В. И. Галкин, В. Г. Дмитриев, В. П. Дьяченко [и др.], 2005. - 543 с. - Текст : непосредственный. Информационные технологии. - Журнал, 1997г. № 10. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Миронова Л.И. Задачи для практических занятий по математике. Аналитическая геометрия на плоскости : учебное пособие / Л. И. Миронова, В. Г. Дмитриев, Л. А. Кондратенко, 2018. - 119 с. - Текст : непосредственный. Дмитриев В.Г. Первые задачи математического анализа (интеграл и частная производная) : учебно-методическое пособие / В. Г. Дмитриев, С. В. Петрас, 2019. - 22 с. - Текст : непосредственный. Дмитриев В.Г. Основы прочности и проектирование силовой конструкции летательных аппаратов / В.Г. Дмитриев, В.М. Чижов, 2005. - 414 с. - Текст : непосредственный. Соединение трубчатых деталей электрическим взрывом проводника / В. П. Колмаков [и др.], 2011. - 152 с. - Текст : непосредственный. Гурзадян Г.Г. Нелинейно-оптические кристаллы. Свойства и применение в квантовой электронике : Справ. / Г. Г. Гурзадян, В. Г. Дмитриев, Д. Н. Никогосян, 1991. - 159 с. - Текст : непосредственный. Вержанский А.П. Специальные ленточные конвейеры / А. П. Вержанский, В. Г. Дмитриев, 2019. - 490, [1] с. - Текст : непосредственный. Информационные технологии. - Журнал, 1997г. № 8. - Текст : непосредственный. Дмитриев В.Г. Тяговый расчет скребковых трубчатых конвейеров : препринт: Ч.2 / В. Г. Дмитриев, Р. Р. Радимов, 2012. - 16 с. - Текст : непосредственный. Дмитриев В.Г. Тяговый расчет скребковых трубчатых конвейеров : препринт / В. Г. Дмитриев, Р. Р. Радимов, 2012. - 15 с. - Текст : непосредственный. Информационные технологии. - Журнал, 1997г. № 9. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Наноинженерия-2011 : материалы временных коллективов, 2011. - 226 с. - Текст : непосредственный. Андреев Д.В. Моделирование зарядовых явлений в датчиках ионизирующих излучений на основе структур металл - диэлектрик - полупроводник с наноразмерными диэлектрическими слоями / Д. В. Андреев, А. Д. Головин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 210-214 Потехина Л.Н. Разработка и исследование полимерных наномембран для ультрафильтрации вторичного молочного сырья / Л. Н. Потехина. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 7-11. Бурякова Е.В. Параметры размола и размер частиц нанопорошков / Е. В. Бурякова. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 14-16 Беспалов Д.М. Механическое поведение пористого нанокристаллического каркаса / Д. М. Беспалов, А. А. Ивашев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 17-21 Фомин А.А. Физико-технологические особенности формирования плазмонапылённых наноструктурированных покрытий / А. А. Фомин, А. Б. Штейнгауэр, С. В. Телегин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 26-30 Фомин А.А. Оборудование и технология напыления биоактивных наноструктурированных покрытий в производстве дентальных имплантатов / А. А. Фомин, А. Б. Штейнгауэр, С. А. Мезенцов. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 36-39 Дружинина В.Н. Диагностика углеродных нанотрубок, модифицированных полианилином / В. Н. Дружинина, Е. Ю. Филатова. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 43-46 Коньшин В.А. Фотометрическое исследование растворителя грунтовки ГФ-021, модифицированного углеродным наноматериалом "Таунит М" / В. А. Коньшин, Е. Ю. Филатова. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 47-50 Шаков К.Г. Система виброизоляции для нанопрецизионного оборудования / К. Г. Шаков, А. С. Селиваненко. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 51-54 Белов Е.С. Особенности техники извлечения ценного металлического сырья в виде наночастиц из промышленных отходов / Е. С. Белов, В. В. Челенко. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 56-59 Пчелинцева Н.И. Методы получения и исследования композиционных электродов с наноразмерными кристаллическими зернами / Н. И. Пчелинцева. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 69-71 Белова И.В. Эколого-технические аспекты применения наночастиц в технологиях пайки и герметизации микросхем и электронных модулей / И. В. Белова. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 64-68 Таланцев А.Д. Влияние намагниченности дельта слоя марганца на поляризацию фотолюминесценции квантовой ямы GaAs/InGaAs/GaAs в гетероструктурах InGaAs/GaAs/delta-‹Mn› / А. Д. Таланцев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 77-79 Дмитриев В.Г. Установка контроля и модификации наноразмерных диэлектрических слоев / В. Г. Дмитриев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 87-90 Бузунов Н.В. Исследование инжекционно-термической обработки наноразмерных диэлектрических слоев / Н. В. Бузунов, В. А. Сеничкин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 91-97 Алмазов Д.В. Времяпролетная методика для исследования наноструктурированных полупроводниковых структур / Д. В. Алмазов. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 98-101 Рыбин Н.Б. Исследование разрывов зон в полупроводниковых наноструктурах с квантовыми ямами методом спектроскопии НЧ-шумов / Н. Б. Рыбин, В. Г. Литвинов, С. В. Ермачихин. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 102-105 Васютин М.С. Влияния электронного облучения на зарядовое состояние наноразмерных диэлектрических пленок МДП-структур / М. С. Васютин, А. В. Романов. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 109-113 Васютин Д.С. Генерация и релаксация положительного заряда в наноразмерных плёнках МДП-структур в сильных электрических полях / Д. С. Васютин, И. В. Соловьев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2011. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2011. - с. 114-118 Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽