Полное описание

Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. - Berlin [etc.] : Springer, 20 - . - Текст : непосредственный.
2 : Scanning probe microscopy techniques. - Berlin [etc.] : Springer, 2006. - XLIII, 420 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 413-420. - ISBN 3-540-26242-3

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Доп. точки доступа:
Bhushan, B.\ed.\

Копия:

Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/18201/2)

Шифр в сводном ЭК: 58285ed94107b0e32c269d12a66dac7f

Заказать
Заказ фрагмента документа ₽