Приложение
для AndroidПолное описание
Стафеев, С. К. Комплекс методов и средств оптического неразрушающего контроля материалов микроэлектроники : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:05.11.07 / С. К. Стафеев. - СПб, 1999. - 38 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг. :С.-Петерб. гос. ин-т точной механики и оптики (техн.ун-т). Библиогр.:с. 35-38(45 назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.13.81 | 621.3.049.76:620.179(043) | |
| 47.01.81 |
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР00-сф69)
Шифр в сводном ЭК: 095913b59652b44fe1e48f09417a9763
Стафеев С.К. Пять тысячелетий оптики: предыстория / С. К. Стафеев, М. Г. Томилин, 2006. - 304 с. - Текст : непосредственный.Стафеев С.К. Основы оптики : Учеб. пособие / С. К. Стафеев, К. К. Боярский, Г. Л. Башнина, 2006. - 336 с. - Текст : непосредственный.Стафеев С.К. Основы оптики : учеб. пособие / С. К. Стафеев, К. К. Боярский, Г. Л. Башнина, 2013. - 328 с. - Текст : непосредственный.Стафеев С.К. Комплекс методов и средств оптического неразрушающего контроля материалов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:05.11.07 / С. К. Стафеев, 1999. - 38 с. - Текст : непосредственный.Гусев, Д. А. Односторонняя Земля. Т. 1 : Теория, 2022. - 95 с. - Текст : непосредственный.
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный.Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный.Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный.Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный.Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный.Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный.Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСавин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный.Иванов А.С. Интерференционные лазерные методы неразрушающего контроля параметров кремниевых пластин в микромеханике : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.02.11 / А. С. Иванов, 1995. - 20 с. - Текст : непосредственный.Орликовский Н.А. Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 05.27.01 / Н. А. Орликовский, 2012. - 25 с. - Текст : непосредственный.Рау Э.И. Локальная диагностика объектов микроэлектроники методами томографии и сканирующей микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.01 / Э. И. Рау, 1993. - 26 с. - Текст : непосредственный.Терещенко Е.Ю. Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Е. Ю. Терещенко, 2005. - 23 с. - Текст : непосредственный.Стафеев С.К. Комплекс методов и средств оптического неразрушающего контроля материалов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:05.11.07 / С. К. Стафеев, 1999. - 38 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽