> Мальченко, С. И. Аппаратно-программный комплекс для получения и анализа вольт-амперных характеристик тонкопленочных и наноструктур в режиме малых токов / С. И. Мальченко, С. С. Балаганский. - Текст : непосредственный // Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments : сб. тр. 9-ой Междунар. науч.-практ. конф., 3-4 дек. 2010 г., Москва. - М., 2010. - С. 185-187. - Библиогр.: 4 назв. ГРНТИ 50.41.25 + 27.35.38
Аннотация: Программно-аппаратный комплекс состоит из пикоамперметра МНИПИ А2-1, платы PCI NI 6251 и терминального блока NI BNC2120. Он функционирует в среде LabVIEW 2008 и предназначен для использования в научных исследованиях. Комплекс разработан на кафедре Биомедицинской и полупроводниковой электроники Рязанского государственного радиотехнического университета. Доп. точки доступа: Балаганский, С.С.
>
Экз-ры полностью 51d2071da453d59688809f2ca5f0cf11 Нет сведений об экземплярах Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -149633-402549)>
Шифр в сводном ЭК: 2592f0154c23dea7c468bbb938230172