Полное описание
European test workshop (2001 ; Stockholm). Proceedings of the IEEE European test workshop, ETW 2001, 29 May - June 2001, Stockholm, Sweden / Spons. by IEEE Computer soc. test technology council (TTTC) Link@:oping univ. (LiU). - Los Alamitos, Ca [etc.] : IEEE computer soc., 2001. - XII,147 p. p. : ill. - ISBN 0-7695-1016-7. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 47.01.81 621.384.001.4(063)
Рубрики: Электронные приборы -- Испытание -- Съезды и конференции
Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/26942)
Шифр в сводном ЭК: 307d42db5264d82696a427eb08b73151
Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный. Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный. Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный. Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный. Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный. Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный. Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный. Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный. Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный. Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный. Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты New frontiers in testing : материалы временных коллективов, 1988. - xxx,1005 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
International test conference,Oct.26-30,1991,Nashville(TN):Proc. / ITC, 1991. - XIV,1135 p. p. - Текст : непосредственный. First Asian test symposium,Nov.26-27,1992,Hiroshima : Proc. / ATS'92, 1992. - X,259 p. p. - Текст : непосредственный. Design, automation and test in Europe : Conference and exhibition, Munich, March 13-16, 2001: Proc. / Ed. W. Nebel, 2001. - XXXVI, 829 p. 829 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the seventh international on-line testing workshop, 9-11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy / IOLTW 2001, 2001. - XI,228 p. p. - Текст : непосредственный. Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 3 : Вопросы автоматизации контрольно-диагностических процедур, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный. Integration of test with desigh and manufacturing : Intern.test conf.Sept.1-3,1987,Washington(DC):Proc. / ITC, 1987. - XXXI,1151 p. p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the IEEE European test workshop, ETW 2001, 29 May - June 2001, Stockholm, Sweden / Spons. by IEEE Computer soc. test technology council (TTTC) Link@:oping univ. (LiU), 2001. - XII,147 p. p. - Текст : непосредственный. Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 3rd Europ.conf.on electron and optical beam testing of electronic devices,Sept.1-3,1993,Zurich / ed. A. Birolini, 1994. - XIII,442 p. p. - Текст : непосредственный. Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 5th European conf.on electron..Aug.27-30,1995,Wuppertal,Germany / ed. E. Wolfgang, 1996. - XII,432 p. p. - Текст : непосредственный. Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 1 : Методы и средства диагностирования цифровых устройств, 1990. - 61 c. - Текст : непосредственный. 2nd European test conference Munich,Apr.10-12,1991 : Proc. / ETC'91, 1991. - 532 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the international test conference,Washington,sept.1990 / ITC, 1990. - XIV,1083 p. мкф. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
