Полное описание
Михайлов, С. Н.
ГРНТИ УДК 47.13.81 621.396.6.001.4(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР95-084)
Шифр в сводном ЭК: 59de271a23e2c0b8db0ea8cde2d00f93
Хаев Р.Х. Инвестиции: оценка, моделирование, конкурентоспособность / Р. Х. Хаев, С. Н. Михайлов, В. А. Мальгин, 2002. - 159 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Михайлов С.Н. Факторы инвестиционной привлекательности энергокомпаний в условиях реформирования : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.05 / С.Н. Михайлов, 2004. - 23 с. - Текст : непосредственный. Энергоэкономические аспекты химическо-технологических систем : Учеб.пособие / С.Н.Михайлов,Э.В.Чиркунов,И.М.Кузнецова и др., 2000. - 115 с. - Текст : непосредственный. Михайлов С.Н. Производство минеральных и земляных красок. Исследование красок по их составу, цвету и свойству, краткие сведения о приготовлении лаков, масел и применении их в технике : руководство для инженеров, строителей, техников, художников, фабрикантов и для техн. школ / С. Н. Михайлов, 1915. - 294,IX с. - Текст : непосредственный. Работа в группе проектов гуманитарного и естественного направлений летней международной компьютерной школы юных / Т.Б.Горская-Белова,Н.С.Келлин,С.Н.Михайлов и др., 1990. - 30 с. - Текст : непосредственный. Диагностика экономической надежности промышленных предприятий в рыночных условиях / В. Н. Кабанов [и др.], 2008. - 258 с. - Текст : непосредственный. Михайлов С.Н. Управление инвестиционной привлекательностью энергокомпаний / С. Н. Михайлов, Г. Д. Антонов, О. П. Иванова, 2005. - 238 с. - Текст : непосредственный. Марченко Г.Н. Оценка экономической конкурентоспособности энергетических предприятий : Монография / Г.Н. Марченко, С.Н. Михайлов, Р.Е. Мансуров, 2005. - 204 с. - Текст : непосредственный. Михайлов С.Н. Устройства диагностирования радиоэлектронной аппаратуры систем управления с переменной структурой : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / С. Н. Михайлов, 1995. - 19 с. - Текст : непосредственный. Марченко Г.Н. Инновационная и инвестиционная деятельность предприятия как фактор его развития : Монография / Г.Н. Марченко, С.Н. Михайлов, 2005. - 88 с. - Текст : непосредственный. Исследование и разработка научно-технических путей создания инфологической системы информационно-аналитического обеспечения научных исследований : монография / С. Н. Михайлов [и др.], 2018. - 110 с. - Текст : непосредственный. Михайлов С.Н. Алгоритм оценки тематической направленности данных в информационных ресурсах / С. Н. Михайлов, К. А. Тезик. - Текст : непосредственный // Изв. Юго-Зап. гос. ун-та. Сер. Упр., вычисл. техника, информатика. Мед. приборостроение. - Курск. - 2015. - № 1 (14). - с. 34--41 Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
