Приложение
для AndroidПолное описание
Смирнов, Д. Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. ... д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов. - Воронеж, 2012. - 42 с. : ил. - Библиогр.: с. 36-42 (55 назв.). - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.01.81 | 621.382:658.562(043) | |
| 621.382-044.3(043) |
Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ -- РАЗБРАКОВКА -- ТЕХНИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ -- ШУМОВЫЕ ПАРАМЕТРЫ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар12-3900)
Шифр в сводном ЭК: 1380a09062b8166a5b05520155477fef
Смирнов Д.Ю. Оптимизация каталитических процессов дегидрирования углеводородов на основе кинетических моделей : специальность 02.00.04 "Физическая химия", 05.13.18 "Математическое моделирование,численные методы и комплексы программ" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. Ю. Смирнов, 2008. - 17 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Смена ориентиров хозяйственной деятельности в переходный период : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. экон.наук:08.00.01 / Д. Ю. Смирнов, 1995. - 22 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностические методы оценки надежности интегральных схем с использованием шумовых параметров : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2006. - 17 с. - Текст : непосредственный.Государственные и муниципальные услуги: организационно-правовой и финансово-экономический аспекты / Н. П. Реброва [и др.], 2012. - 315 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Технический анализ финансовых рынков : учеб. пособие / Д. Ю. Смирнов, 2013. - 110 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2012. - 42 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2014. - 43 с. - Текст : непосредственный.Современные тенденции в прикладной экономике и подготовке студентов экономических направлений : материалы всерос. конф. / [Отв. ред. Н. Ю. Феофанов], 2016. - 134 с. - Текст : электронный.Смирнова Д.Д. Сравнительный анализ экспертных систем и искусственных нейронных сетей / Д. Д. Смирнова, Д. Ю. Смирнов. - Текст : непосредственный // Регулирование земельно-имущественных отношений в России: правовое и геопространственное обеспечение, оценка недвижимости, экология, технологические решения : сборник материалов VII Национальной научно-практической конференции с международным участием, [21-24 ноября 2023 г., Новосибирск] : в 3 частях / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Сибирский государственный университет геосистем и технологий (СГУГиТ). - Новосибирск : СГУГиТ, 2024. - Ч. 3. - с. 94-99
Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2012. - 42 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2014. - 43 с. - Текст : непосредственный.
Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный.Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный.Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный.Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный.Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный.Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный.Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный.Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный.Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный.Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный.Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный.Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный.Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный.Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Левицкий В.С. Диагностика приборных структур на основе кремниевых и углеродных слоев методом спектроскопии комбинационного рассеяния света : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / В. С. Левицкий, 2016. - 18 с. - Текст : непосредственный.Фролов Д.С. Диагностика полупроводниковых структур методом электрохимического вольт-фарадного профилирования : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Д. С. Фролов, 2016. - 18 с. - Текст : непосредственный.Антонова Е.А. Влияние рентгеновского излучения на параметры полупроводниковых изделий : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Е. А. Антонова, 2013. - 17 с. - Текст : непосредственный.Жарких А.П. Диагностические методы оценки качества и надежности полупроводниковых приборов с использованием низкочастотного шума : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / А. П. Жарких, 2005. - 17 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2012. - 42 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2014. - 43 с. - Текст : непосредственный.Резчиков, Сергей Евгеньевич. Оптимальные процедуры и адаптивные алгоритмы измерения параметров низкочастотного шума полупроводниковых приборов : специальность 2.2.4. - Приборы и методы измерения (электрические и магнитные величины) (технические науки): автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Резчиков Сергей Евгеньевич, 2021. - 25 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽