Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный.Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный.Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный.Баринов С.В. Разработка и исследование комплекса генетических алгоритмов разбиения схем с учетом временных задержек / С. В. Баринов, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный.Усикова М.А. Методы сверхлокального и селективного препарирования кремниевых интегральных схем / М. А. Усикова, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный.Венцов Н.Н. Исследование и разработка генетических алгоритмов и автоматов адаптации для повышения эффективности доступа к данным САПР СБИС : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)", 05.13.17 "Теоретические основы информатики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. Н. Венцов, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Никифоров А.Ю. Радиационные эффекты в КМОП ИС / А. Ю. Никифоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков, 1994. - 164 c. - Текст : непосредственный.Чураев С.О. Встраиваемые системы контроля параметров интегральных схем пикосекундного разрешения / С. О. Чураев, 2012. - 19 с. - Текст : непосредственный.Special issue on high-speed circuits : материалы временных коллективов / Ed.: M. Mokhtari, M. G. Stubbs. - 1095-1210 p. p. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) , 1995. - 529-649 p. p. - Текст : непосредственный.Курейчик В.М. Контролепригодное проектирование и самотестирование СБИС: проблемы и перспективы / В. М. Курейчик, С. И. Родзин, 1994. - 174 c. - Текст : непосредственный.Микросхемы интегральные серии КР580.. К744 / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург), 1993. - 224 c. - Текст : непосредственный.Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, Ю. К. Фортинский, К. И. Таперо, 2007. - 121 с. - Текст : непосредственный.Овечкин Р.М. Новые технологичные СВЧ устройства для перестраиваемых мощных плотноупакованных СВЧ схем и настроечные корпуса для них : специальность 05.12.07 "Антенны, СВЧ устройства и их технологии" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Р. М. Овечкин, 2004. - 16 c. - Текст : непосредственный.Packaging handbook, 1991. - Pag.var. мкф. - Текст : непосредственный.Фадеев А.В. Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии / А. В. Фадеев, 2014. - 22 с. - Текст : непосредственный.Сибагатуллин А.Г. Повышение помехоустойчивости аналого-цифровых систем на кристалле средствами адаптивной коррекции сложных функциональных блоков / А. Г. Сибагатуллин, 2010. - 27 с. - Текст : непосредственный.Красников Г.Я. Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев, 2003. - 383 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыМоскалев В.Ю. Конструктивно-технологические методы повышения радиационной стойкости биполярных и КМОП интегральных схем : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / В. Ю. Москалев, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный.Печенкин А.А. Лазерные методы оценки стойкости КМОП БИС с тиристорным эффектом при воздействии отдельных ядерных частиц / А. А. Печенкин, 2012. - 26 с. - Текст : непосредственный.
Гришаков В.В. Моделирование влияния температурных режимов технологического процесса изготовления интегральных микросхем на их радиационную стойкость : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / В. В. Гришаков, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный.Чжо Ко Вин.Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Чжо Ко Вин, 2013. - 21 с. - Текст : непосредственный.Лукичев А.Н. Автоматизированное макромоделирование для прогнозирования функциональной и параметрической реакции аналоговых микроэлектронных схем на радиационное воздействие : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.03, 01.04.01 / А. Н. Лукичев, 2010. - 20 с. - Текст : непосредственный.Ахабаев Б.А. Лазерные имитационные методы моделирования переходных ионизационных эффектов в полупроводниковых приборах и интегральных схемах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05,05.27.01 / Б. А. Ахабаев, 1997. - 18 с. - Текст : непосредственный.Шмелев С.К. Радиационностимулированные эффекты в КМДП ИС на объемном кремнии и со структурой кремнии на сапфире : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:01.04.13 / С. К. Шмелев, 1994. - 37 с. - Текст : непосредственный.Яньков А.И. Разработка средств автоматизации моделирования импульсного радиационного воздействия на комплементарные микросхемы и экспериментальная проверка их эффективности : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.12 / А. И. Яньков, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Зольникова А.Н. Моделирование характеристик КМОП ИС с учетом радиации в САПР ИЭТ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.12 / А. Н. Зольникова, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный.Криницкий А.В. Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.05 / А. В. Криницкий, 2012. - 26 с. - Текст : непосредственный.Лавлинский В.В. Научные основы синтеза виртуальной реальности для объектов проектирования радиационно-стойкой электронной компонентной базы специального назначения : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.13.12 / В. В. Лавлинский, 2015. - 32 с. - Текст : непосредственный.Савченков Д.В. Развитие лазерных методов испытаний интегральных схем на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.05 / Д. В. Савченков, 2014. - 23 с. - Текст : непосредственный.Аргамонов А.С. Аппаратно-программные средства контроля характеристик воздействия при имитационных испытаниях интегральных схем на радиационную стойкость : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. С. Аргамонов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Чумаков А.И. Методы и средства моделирования доминирующих радиационных эффектов в интегральных схемах при воздействии высокоэнергетичных ядерных частиц (повышение достоверности прогнозирования и обеспечения радиационной стойкости электронных устройств) : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.13.05,05.27.01 / А. И. Чумаков, 1998. - 34 с. - Текст : непосредственный.Башин А.Ю. Влияние инфракрасного излучения на радиационную деградацию биполярных ИМС : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / А.Ю. Башин, 2005. - 26 с. - Текст : непосредственный.Соловьев А.В. Исследование и разработка конструктивно-технологических методов улучшения электрических характеристик радиационно-стойких интегральных микросхем в условиях серийного производства : специальность 05.27.01 - "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах": автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / А. В. Соловьев, 2018. - 27 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽