Полное описание
> Просвечивающая и растровая электронная микроскопия : учеб. пособие / В. И. Темных [и др.]. - Красноярск : КГТУ, 2005 (Красноярск). - 91 с. : ил. - Библиогр.: с. 91(19 назв.). - 100 экз. - Текст : непосредственный. В надзаг.: Краснояр. гос. техн. ун-т
ГРНТИ УДК 29.35.43 537.533.35
Рубрики: Микроскопия электронная
Доп. точки доступа: Темных, В.И.
Зеер, Г.М.
Артемьев, Е.М.
Лямкина, Н.Э.
Готовко, С.А.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-05/22312)>
Шифр в сводном ЭК: f1990b3776d9cb480126b4df4bb4807a
Артемьев Е.М. Метастабильные состояния и магнитные свойства пленок сплавов на основе железа и кобальта : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Е. М. Артемьев, 2008. - 41 с. - Текст : непосредственный. Лубнин М.А. Проектирование сварных конструкций. Прочность и деформации конструкций / М. А. Лубнин, С. А. Готовко, 2005. - 139 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Интеллектуальная собственность : Вопросы оценки объектов интеллектуальной собственности и вовлечения их в хозяйственный оборот / Красноярский центр науч.-технической информации. Т. 3 / А.А. Лепешев, А.А. Струков, В.И. Невзоров [и др.], 2005. - 347 с. - Текст : непосредственный. Михеев А.А. Диффузионное соединение материалов : Учеб.пособие / А. А. Михеев, В. И. Темных, Г. М. Зеер, 2002. - 182 с. - Текст : непосредственный. Петецкий В.Н. Теория сварочных процессов : учеб. пособие / В. Н. Петецкий, С. А. Готовко, 2006. - 140 с. - Текст : непосредственный. Свечникова Л.А. Фазовые и структурные превращения в металлах и сплавах : учеб. пособие / Л. А. Свечникова, В. И. Темных, А. М. Токмин, 2016. - 193 с. - Текст : непосредственный. Темных В.И. Теория и технология термической обработки металлов и сплавов : Учеб.пособие / В.И.Темных,Л.А.Быконя, 2000. - 176 с. - Текст : непосредственный. Лямкина Н.Э. Ударно-волновой синтез допированного хромом ультрадисперсного оксида алюминия и его свойства : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.16.06 / Н. Э. Лямкина, 2005. - 20 c. - Текст : непосредственный. Зеер Г.М. Дисперсноупрочненные порошковые металлокерамические композиционные материалы : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.16.06 / Г. М. Зеер, 1998. - 24 с. - Текст : непосредственный. Быконя Л.А. Теория и технология термической обработки сталей : Учеб.пособие по специальности 030500,120800,1207,1206,1205 и др. / Л.А.Быконя,В.И.Темных, 1999. - 131 с. - Текст : непосредственный. Модульный подход в изучении материаловедения : Учеб.пособие / А.М.Токмин,В.И.Темных,Е.А.Астафьева и др., 2001. - 57 с. - Текст : непосредственный. Ципотан А.С. Контролируемое лазерным излучением формирование наноструктур с заданной топологией / А. С. Ципотан, Н. Э. Лямкина, А. В. Шамшурин. - Текст : непосредственный // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы. VI Ставеровские чтения : тр. Всерос. науч.-техн. конф. с междунар. участием, посвящ. 30-летию открытия наноалмазов, 9 - 12 сент. 2012 г., Бийск. - Красноярск. - 2012. - с. 81-83 Просвечивающая и растровая электронная микроскопия : Учеб. пособие / В. И. Темных [и др.], 2005. - 91 с. - Текст : непосредственный. Темных В.И. Материаловедение в вопросах и ответах : учеб. пособие / В. И. Темных, Л. А. Быконя, А. М. Токмин, 2009. - 300 с. - Текст : непосредственный. Готовко С.А. Оценка сопротивляемости элементов технологического оборудования коррозионно-механическому разрушению : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 01.02.06 / С. А. Готовко, 2005. - 22 с. - Текст : непосредственный. Токмин А.М. Выбор материалов и технологий в машиностроении : учеб. пособие / А. М. Токмин, В. И. Темных, Л. А. Свечникова, 2013. - 234 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова, 1974. - 319 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный. Handbook of microscopy for nanotechnology / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽