ГПНТБ России - Полное описание

Государственная публичная
научно-техническая библиотека России

Основана в 1958 году

Полное описание

Технологическое моделирование фрагмента ИМС : метод. указ. к курсовой работе по дисциплине "Спец. вопросы технол. интегр. микросхем". - СПб. : СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2014. - 28 с. : ил. - (Методические указания). - Библиогр.: с. 24-25 (26 назв.). - 37 экз. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т "ЛЭТИ"

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.77-047.58(076.5)

Рубрики:
Интегральные схемы -- Моделирование -- Учебники и пособия

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-14/12718)

Шифр в сводном ЭК: 2d3e27fe294ff19e6cbc5c047fd6edbb

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Технологическое моделирование фрагмента ИМС : метод. указ. к курсовой работе по дисциплине "Спец. вопросы технол. интегр. микросхем", 2014. - 28 с. - Текст : непосредственный.Демидов, Анатолий Семёнович. Методические указания к учебно-исследовательской работе студентов "Конструкция воздушно-реактивных двигателей и их основных узлов" / автор-составитель А. С. Демидов, 2020. - 32 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.ГРНТИ. Государственный рубрикатор научно-технической информации / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственная публичная научно-техническая библиотека России, Технический комитет по стандартизации "Научно-техническая информация, библиотечное и издательское дело" (ТК 191), 2022. - 168, [1] с. (Введено оглавление). - Текст (визуальный) : непосредственный.ГРНТИ. Государственный рубрикатор научно-технической информации : версия 2022 г. / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственная публичная научно-техническая библиотека России, Технический комитет по стандартизации "Научно-техническая информация, библиотечное и издательское дело, управление документами" (ТК 191), 2023. - 166, [1] с. (Введено оглавление). - Текст (визуальный) : непосредственный.Батанов, Михаил Семенович. Определение погрешностей технических измерений : методические указания к практическим занятиям / М. С. Батанов, А. Ю. Бурова, 2024. - 107, [1] с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Общие принципы конструирования РЭС : методические указания к практическим занятиям / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет), 2025. - 63, [1] с. - Текст (визуальный) : непосредственный.ГРНТИ. Государственный рубрикатор научно-технической информации : версия 2025 г. / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственная публичная научно-техническая библиотека России, Технический комитет по стандартизации "Научно-техническая информация, библиотечное и издательское дело, управление документами" (ТК 191), 2025. - 217, [1] с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.

Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный.Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный.Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный.Баринов С.В. Разработка и исследование комплекса генетических алгоритмов разбиения схем с учетом временных задержек / С. В. Баринов, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный.Усикова М.А. Методы сверхлокального и селективного препарирования кремниевых интегральных схем / М. А. Усикова, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный.Венцов Н.Н. Исследование и разработка генетических алгоритмов и автоматов адаптации для повышения эффективности доступа к данным САПР СБИС : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)", 05.13.17 "Теоретические основы информатики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. Н. Венцов, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Никифоров А.Ю. Радиационные эффекты в КМОП ИС / А. Ю. Никифоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков, 1994. - 164 c. - Текст : непосредственный.Чураев С.О. Встраиваемые системы контроля параметров интегральных схем пикосекундного разрешения / С. О. Чураев, 2012. - 19 с. - Текст : непосредственный.Special issue on high-speed circuits : материалы временных коллективов / Ed.: M. Mokhtari, M. G. Stubbs. - 1095-1210 p. p. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) , 1995. - 529-649 p. p. - Текст : непосредственный.Курейчик В.М. Контролепригодное проектирование и самотестирование СБИС: проблемы и перспективы / В. М. Курейчик, С. И. Родзин, 1994. - 174 c. - Текст : непосредственный.Микросхемы интегральные серии КР580.. К744 / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург), 1993. - 224 c. - Текст : непосредственный.Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, Ю. К. Фортинский, К. И. Таперо, 2007. - 121 с. - Текст : непосредственный.Овечкин Р.М. Новые технологичные СВЧ устройства для перестраиваемых мощных плотноупакованных СВЧ схем и настроечные корпуса для них : специальность 05.12.07 "Антенны, СВЧ устройства и их технологии" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Р. М. Овечкин, 2004. - 16 c. - Текст : непосредственный.Packaging handbook, 1991. - Pag.var. мкф. - Текст : непосредственный.Фадеев А.В. Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии / А. В. Фадеев, 2014. - 22 с. - Текст : непосредственный.Сибагатуллин А.Г. Повышение помехоустойчивости аналого-цифровых систем на кристалле средствами адаптивной коррекции сложных функциональных блоков / А. Г. Сибагатуллин, 2010. - 27 с. - Текст : непосредственный.Красников Г.Я. Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев, 2003. - 383 с. - Текст : непосредственный.

Показать все результаты

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Технологическое моделирование фрагмента ИМС : метод. указ. к курсовой работе по дисциплине "Спец. вопросы технол. интегр. микросхем", 2014. - 28 с. - Текст : непосредственный.Плотникова, Екатерина Юрьевна. Моделирование технологических процессов и интегральных микросхем : лабораторный практикум / Е. Ю. Плотникова, А. В. Арсентьев, А. А. Винокуров, 2020. - 95 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.

Технологическое моделирование фрагмента ИМС : метод. указ. к курсовой работе по дисциплине "Спец. вопросы технол. интегр. микросхем", 2014. - 28 с. - Текст : непосредственный.

Заказ фрагмента документа ₽