Полное описание
> Метрология, стандартизация, сертификация и системы управления качеством радиоэлектронной наукоемкой продукции : учебное пособие / С. С. Анцыферов [и др.]; под ред. А. С. Сигова. - М. : МИРЭА, 2010 - . - В надзаг.: Моск. гос. ин-т радиотехники, электроники и автоматики (техн. ун-т). - Текст : непосредственный. Ч. 1 : Общая метрология управления качеством, метрология, квалиметрия и информационные технологии в управлении качеством / С. С. Анцыферов. - 2010. - 211 с. - Библиогр.: с. 207-209 (45 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-7339-0746-8
ГРНТИ УДК 47.01.81 621.38.002:006.91 47.01.37 621.37/.39:658.516 621.396.6.002:658.562
Рубрики: Радиоэлектроника -- Метрологическое обеспечение
Радиоэлектроника -- Стандартизация
Радиоэлектронная аппаратура -- Качество
Доп. точки доступа: Анцыферов, С.С.
Голубь, Б.И.
Русанов, К.Е.
Филатов, С.В.
>
Экз-ры полностью ac8e08981eb1986e119930e466bb1266 Нет сведений об экземплярах Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/19332/1)>
Шифр в сводном ЭК: ac8e08981eb1986e119930e466bb1266
Филимонов Ю.С. Основы радиоэлектроники : Учеб.пособие. Ч. 3, 1999. - 56 с. - Текст : непосредственный. Куртев Н.Д. Основы метрологии : Учеб. пособие:В 2-х ч. Ч. 1, 2000. - 92 с. - Текст : непосредственный. Куртев Н.Д. Основы метрологии : Учеб. пособие:В 2-х ч. Ч. 2, 2000. - 86 с. - Текст : непосредственный. Филимонов Ю.С. Основы радиоэлектроники : Учеб.пособие. Ч. 2 / Ю.С.Филимонов,А.М.Брежнев,С.В.Филатов, 1998. - 51 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Голубь Б.И. Лазерные оптико-электронные приборы для записи информации : Учеб. пособие / Б.И.Голубь,Б.С.Введенский, 1989. - 60 c. - Текст : непосредственный. Анцыферов С.С. Основы теоретической метрологии : учеб. пособие / С. С. Анцыферов, М. С. Афанасьев, 2012. - 207 с. - Текст : непосредственный. Гайдамашко И.Г. Методические рекомендации по проведению исследования проблем управления качеством профессиональной подготовки бакалавров в техническом университете : учеб. пособие / И. Г. Гайдамашко, С. В. Филатов, Т. Г. Цуникова, 2014. - 139 с. - Текст : непосредственный. Филатов С.В. Широкоспектральные квантовые приборы обнаружения теплоизлучающих объектов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / С. В. Филатов, 2002. - 18 с. - Текст : непосредственный. Филатов С.В. Разработка математической модели оценки финансового состояния предприятия : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.13 / С. В. Филатов, 2009. - 24 с. - Текст : непосредственный. Голубь Б.И. Оптические каналы оптико-электронных приборов : Учеб. пособие для студентов вузов по направлениям "Приборостроение", "Оптотехника" и спец. "Физ. методы и приборы интроскопии" / Б.И.Голубь, 1991. - 76 с. - Текст : непосредственный. Филимонов, Ю. С. Основы радиоэлектроники : Учеб.пособие. Ч. 1, 1996. - 46 с. - Текст : непосредственный. Голубь Б.И. Повышение эффективности пассивных систем обнаружения и распознавания теплоизлучающих объектов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:05.27.03 / Б. И. Голубь, 2000. - 38 с. - Текст : непосредственный. Механика жидкости и газа : Лаб. практикум: Учеб. пособие / А. М. Грибков [и др.], 2007. - 60 с. - Текст : непосредственный. Филатов С.В. Совершенствование технологии выплавки ванадиевого чугуна на ОАО "НТМК" : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.25.07 / С. В. Филатов, 2010. - 35 с. - Текст : непосредственный. Голубь, Б. И. Основы метрологии, стандартизации и сертификации : Учеб. пособие: В 3-х ч. Ч. 2 : Основы стандартизации, 2003. - 135 с. - Текст : непосредственный. Голубь, Б. И. Основы метрологии, стандартизации и сертификации : Учеб. пособие: В 3-х ч. Ч. 3 : Основы сертификации, 2003. - 215 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный. Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный. Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный. Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный. Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный. Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный. Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный. Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Виноградова А.А. Международная стандартизация в области электротехники и радиоэлектроники, 1974. - 207 с. - Текст : непосредственный. Смит Д.Д. Функциональная безопасность : методический материал / Д. Д. Смит, К. Д. Симпсон, 2004. - 207 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный. Хрячков А.И. Моделирование и алгоритмизация процедур сертификации при проектировании устройств видеотехники на основе лингвистического подхода : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. И. Хрячков, 2001. - 16 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный. Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Виноградова А.А. Международная стандартизация в области электротехники и радиоэлектроники, 1974. - 207 с. - Текст : непосредственный. Максименко С.В. Разработка и исследование гистограммного метода определения углового положения технологических объектов при визуальном контроле микрокомпонентов РЭА : специальность 05.12.13 "Системы, сети и устройства телекоммуникаций " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. В. Максименко, 1998. - 21 с. - Текст : непосредственный. Недоступ Л.А. Модели и методы комплексной оптимизации процессов формирования и контроля качества прецизионной радиоэлектронной аппаратуры : специальность 05.12.13 "Системы, сети и устройства телекоммуникаций " : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Л. А. Недоступ, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный. Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽