Полное описание
Коловский, Ю. В.
ГРНТИ УДК 81.81.21 620.179.118(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР95-4523)
Шифр в сводном ЭК: 3d978bd85d1a0a94c6edb0b7347476de
Zhu Y. Identification of multivariable industrial processes : монография / Y. Zhu, T. Backx, 1993. - 187 p. - Текст : непосредственный. Futuretech : a probing look at strategic technologies that will significantly affect industry. 1(1986) : Bonus rep.:Subkillimeter waves:boon to on-line production, 1986. - 18 p. - Текст : непосредственный. Зайцев Г.Н. Управление качеством. Экспертиза и управление качеством производственных технологий : выставочные материалы / Г. Н. Зайцев, 2013. - 138 с. - Текст : непосредственный. Статистическое управление процессами. SPC, 2004. - 168 с. - Текст : непосредственный. Табенкин А.Н. Шероховатость, волнистость, профиль. Международный опыт / А. Н. Табенкин, С. Б. Тарасов, С. Н. Степанов, 2007. - 134 с. - Текст : непосредственный. Управление качеством поверхности при финишной обработке деталей выглаживанием : учебное пособие / В. Ф. Губанов, В. В. Марфицын, В. Н. Орлов, А. Г. Схиртладзе, 2007. - 84 с. - Текст : непосредственный. Статистическое управление процессами (SPC). Ссылочное руководство : монография / Ред. А. В. Глазунов, 2012. - 381 с. - Текст : непосредственный. Родыгина А.Е. Формирование деформационной составляющей микронеровностей, образующихся при несвободном резании / А. Е. Родыгина, 2009. - 17 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Табенкин А.Н. Текстура поверхности и ее измерение. Шероховатость, волнистость, профиль, топография / А. Н. Табенкин, С. Б. Тарасов, С. Н. Степанов ; Ред. Н. А. Табачникова, 2018. - 264 с. - Текст : непосредственный. Кравцов А.Н. Моделирование технологического обеспечения эксплуатационных свойств поверхностей деталей машин / А. Н. Кравцов, Н. В. Кравцов, 2010. - 171 с. - Текст : непосредственный. Кононогов С.А. Научно-методические основы 3D-метрии шероховатости поверхности : учеб. пособие / С. А. Кононогов, В. Г. Лысенко, 2010. - 235 с. - Текст : электронный. Системный подход при решении технологических задач / А. Н. Швецов [и др.]; под ред. С. Л. Лазуткина, 2011. - 203 с. - Текст : непосредственный. Еремин О.Н. Автоматизация подготовки производства с разработкой модуля управления качеством поверхностного слоя деталей на основе анализа пластической области в реальном масштабе времени : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.06 / О. Н. Еремин, 2009. - 18 с. - Текст : непосредственный. Advanced materials research. Vol. 53-54 : Surface finishing technology and surface engineering : sel., peer rev. papers from Intern. conf. on surface finishing technology and surface eng., (ICSFT2008), 20-21 Sept. 2008, Taiyuan, China / International conference on surface finishing technology and surface engineering (ICSFT2008) (2008; Taiyuan), 2008. - XII, 433 p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Некрасов В.Н. Управление качеством деталей путем прогнозирования топографии обработанной поверхности с использованием имитационного моделирования (на примере торцевого фрезерования) : специальность 05.03.01 "", 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / В. Н. Некрасов, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Золотаревский С.Ю. Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.15 / С. Ю. Золотаревский, 2010. - 35 с. - Текст : непосредственный. Fischer E.R. Doppelheterodyn-Interferometrie zur profil- und Abstandsmessung an optisch rauhen Oberflachen : Diss / E.R.Fischer, 1994. - 225 S. - Текст : непосредственный. Шулепов А.В. Повышение эффективности определения состояния режущего инструмента на основе спектрального анализа шероховатости обработанной поверхности детали : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.16 / А. В. Шулепов, 1999. - 18 с. - Текст : непосредственный. Zou Y. Speckleinterferometrie zur Topografiebestimmung an optisch rauhen Oberflachen : Diss. / Y.Zou, 1996. - 122 S. - Текст : непосредственный. Золотаревский С.Ю. Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.11.15 / С. Ю. Золотаревский, 2015. - 32 с. - Текст : непосредственный. Доц М.В. Обеспечение параметров качества поверхностей деталей из стеклопластика на основе нейросетевых моделей формирования шероховатости : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.02.08 / М. В. Доц, 2007. - 20 с. - Текст : непосредственный. Чмутин А.М. Разработка лазерного доплеровского метода и устройств для измерения параметров тангенциальной вибрации шероховатых поверхностей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 01.04.05 / А. М. Чмутин, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный. Яковенко А.В. Возможности развития электронной оже-спектроскопии: учет влияния шероховатости поверхности и восстановление формы спектров : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / А. В. Яковенко, 1994. - 16 с. - Текст : непосредственный. Занавескин М.Л. Атомно-силовая микроскопия в исследовании шероховатости наноструктурированных поверхностей : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / М. Л. Занавескин, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Коловский Ю.В. Исследование радиотехнических систем для определения рельефа технологических поверхностей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук в форме науч.докл.:05.12.21 / Ю. В. Коловский, 1995. - 38 с. - Текст : непосредственный. Ангельский О.В. Корреляционные характеристики поля рассеянного оптического излучения и диагностика структуры и динамики фазовых объектов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.05 / О. В. Ангельский, 1990. - 41 с. - Текст : непосредственный. Литвак М.Я. Рассеяние света негауссовскими шероховатыми поверхностями:анализ на основе полигауссовских моделей случайных процессов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / М. Я. Литвак, 1995. - 22 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
