ГПНТБ России - Полное описание

Полное описание

Рыков, С. А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб.пособие для студентов вузов / С.А.Рыков;Под общ.ред.В.И.Ильина, А.Я.Шика. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - 1000 экз. - ISBN 5-02-024956-4. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.51 (14 назв.)

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:620.186

Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-01/65863)

Шифр в сводном ЭК: a839c47ede75d32d22860d0f611ca869

Лыков С.Н. Квантовая механика : Руководство по решению задач: Учеб. пособие. Ч. 2, 2004. - 157 с. - Текст : непосредственный.Лыков С.Н. Квантовая механика. Задачи с решениями : учебное пособие / С. Н. Лыков, В. Э. Гасумянц, С. А. Рыков, 2008. - 314 с. - Текст : непосредственный.

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Макарова Т.Л. Электронная структура фуллеренов и фуллеритов / Т. Л. Макарова, И. Б. Захарова, 2001. - 70 с. - Текст : непосредственный.Воробьев Л.Е. Кинетические и оптические явления в сильных электрических полях в полупроводниках и наноструктурах / Л. Е. Воробьев, Л. Е. Воробьев, С. Н. Данилов, Е. Л. Ивченко ; Ред. В. И. Ильин, 2000. - 157 с. - Текст : непосредственный.

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Ильин В.И. Варизонные полупроводники и гетероструктуры : Учеб. пособие "Техническая физика" / В. И. Ильин, С. Ф. Мусихин, А. Я. Шик, 2000. - 100 с. - Текст : непосредственный.Забродский, Андрей Георгиевич. Электронные свойства неупорядоченных систем : учеб. пособие для вузов по направлению "Техн. физика" / А. Г. Забродский, С. А. Немов, Ю. И. Равич, 2000. - 70 с. - Текст : непосредственный.Русско-английский словарь и фразеология новых разделов физики полупроводников / Е.В.Владимирская,В.Э.Гасумянц,В.И.Ильин,Т.Л.Макарова;Под общ.ред.В.И.Ильина,А.Я.Шика, 2000. - 108 с. - Текст : непосредственный.Лыков С.Н. Сверхпроводимость полупроводников : Учеб. пособие для студентов вузов по направлению "Техн. физика" / С.Н.Лыков;Под общ.ред.В.И.Ильина,А.Я.Шика, 2001. - 101 с. - Текст : непосредственный.Широкозонные полупроводники : Учеб. пособие для студентов вузов по направлению "Техн. физика" / Ю.Г.Шретер,Ю.Т.Ребане,В.А.Зыков,В.Г.Сидоров;Под общ. ред. В.И. Ильина, А.Я. Шика, 2001. - 124 с. - Текст : непосредственный.Рыков С.А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учеб.пособие для студентов вузов / С.А.Рыков;Под общ.ред.В.И.Ильина, А.Я.Шика, 2001. - 52 с. - Текст : непосредственный.Фотоэлектрические явления в полупроводниках и размерно-квантованных структурах : Учеб. пособие для студентов вузов по направлению "Техн. физика" / Л.Е.Воробьев,С.Н.Данилов,Г.Г.Зегря и др.;Под общ. ред. В.И.Ильина, А.Я.Шика, 2001. - 248 с. - Текст : непосредственный.Физика низкоразмерных систем : Учеб. пособие для студентов вузов по направлению "Техн. физика" / А.Я.Шик,Л.Г.Бакуев,С.Ф.Мусихин,С.А.Рыков;Под ред. В.И. Ильина, А.Я. Шика, 2001. - 155 с. - Текст : непосредственный.Оптические свойства наноструктур : Учеб. пособие для студентов вузов по направлению "Техн. физика" / Л.Е.Воробьев,Е.Л.Ивченко,Д.А.Фирсов,В.А.Шалыгин;Под общ. ред. В. И. Ильина, А. Я. Шика, 2001. - 187 с. - Текст : непосредственный.

Показать все результаты

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Поляков А.Н. Разработка катодолюминесцентных методов изучения физических свойств прямозонных полупроводниковых материалов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / А. Н. Поляков, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный.Конников С.Г. Количественная растровая электронная микроскопия полупроводников : Учеб.пособие / С.Г.Конников, 1999. - 57 с. - Текст : непосредственный.Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy : Proc.of a NATO advanced research workshop on the evaluation of advanced semiconductor materials held Sept.12-17,1988 in Bristol / Ed. D. Cherns, 1989. - XI,412 p. p. - Текст : непосредственный.Jong A.F.de Image interpretation for transmission electron microscoopy of thin semiconductor layers and interfaces : Diss. / A.F.de Jong, 1990. - 185 p. - Текст : непосредственный.Microscopy of semiconducting materials 2007 : proceedings of the 15th conference, 2-5 April, 2007, Cambridge, UK / SpringerLink (Online service), 2008 r=on-line. - Текст : электронный.Springer proceedings in physics. 107 : Microscopy of semiconducting materials : proc. of the 14th conf., Apr. 11-14, 2005, Oxford, UK / Microscopy of semiconducting materials (14th; 2005; Oxford), 2005. - XVI, 537 p. - Текст : непосредственный.Microscopy of semiconducting materials : proceedings of the 14th conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK / ed. A. G. Cullis, J. L. Hutchison, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Рыков С.А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учеб.пособие для студентов вузов / С.А.Рыков;Под общ.ред.В.И.Ильина, А.Я.Шика, 2001. - 52 с. - Текст : непосредственный.Юшков, Антон Александрович. Исследование структуры тонких пленок типа A^V-B^VI и сульфидных нанопорошков методами электронной микроскопии : 1.3.8. Физика конденсированного состояния: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Юшков Антон Александрович, 2022. - 20 с. - Текст : непосредственный.

Рыков С.А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учеб.пособие для студентов вузов / С.А.Рыков;Под общ.ред.В.И.Ильина, А.Я.Шика, 2001. - 52 с. - Текст : непосредственный.

Заказ фрагмента документа ₽

Полное описание

Автор12

Заглавие13

Тематический рубрикатор (ГРНТИ)2972

УДК/ББК12

Номер журнала - Статьи1