• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Ван, К. В. Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:02.00.02 / К. В. Ван. - М., 1991. - 21 с. : ил. - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Моск.ин-т тонкой хим.технологии им.М.В.Ломоносова. Библиогр.: с. 20-21(12назв.).

    ГРНТИ УДК
    38.35.21549.08:543.422.8(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР91-7752)

    Шифр в сводном ЭК: 313a6e8af8f2bd32465227c06632d944



    Заказ фрагмента документа ₽