Приложение
для AndroidПолное описание
Director, S. W. VLSI design for manufacturing: yeild enhancement / S.W.Director,W.Maly,A.J.Strojwas. - Boston, Ma [etc.] : Kluwer, 1990. - XII,291 p. p. : ill. - (The Kluwer international series in engineering and computer science ; 86). - ISBN 0-7923-9054-7. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.269-283.Указ.:с.285-291
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33.31 | 621.3.049.771.14.002:658.562 |
Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Качество
Доп. точки доступа:
Maly, W.
Strojwas, A.J.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/15815/86)
Шифр в сводном ЭК: 9c34edcbc842b0ec8527be8176333915
Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) , 1995. - 529-649 p. p. - Текст : непосредственный.Deng Y. 3-Dimensional VLSI : a 2.5-dimensional integration scheme / Y. Deng, W. P. Maly, 2010 r=on-line. - Текст : электронный.Dewey A.M. Principles of VLSI system planning : a framework for conceptual design / A.M.Dewey,S.W.Director, 1990. - XVIII,203 p. p. - Текст : непосредственный.Director S.W. VLSI design for manufacturing: yeild enhancement / S.W.Director,W.Maly,A.J.Strojwas, 1990. - XII,291 p. p. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный.Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный.Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный.Баринов С.В. Разработка и исследование комплекса генетических алгоритмов разбиения схем с учетом временных задержек / С. В. Баринов, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный.Усикова М.А. Методы сверхлокального и селективного препарирования кремниевых интегральных схем / М. А. Усикова, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный.Венцов Н.Н. Исследование и разработка генетических алгоритмов и автоматов адаптации для повышения эффективности доступа к данным САПР СБИС : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)", 05.13.17 "Теоретические основы информатики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. Н. Венцов, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Никифоров А.Ю. Радиационные эффекты в КМОП ИС / А. Ю. Никифоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков, 1994. - 164 c. - Текст : непосредственный.Чураев С.О. Встраиваемые системы контроля параметров интегральных схем пикосекундного разрешения / С. О. Чураев, 2012. - 19 с. - Текст : непосредственный.Special issue on high-speed circuits : материалы временных коллективов / Ed.: M. Mokhtari, M. G. Stubbs. - 1095-1210 p. p. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) , 1995. - 529-649 p. p. - Текст : непосредственный.Курейчик В.М. Контролепригодное проектирование и самотестирование СБИС: проблемы и перспективы / В. М. Курейчик, С. И. Родзин, 1994. - 174 c. - Текст : непосредственный.Микросхемы интегральные серии КР580.. К744 / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург), 1993. - 224 c. - Текст : непосредственный.Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, Ю. К. Фортинский, К. И. Таперо, 2007. - 121 с. - Текст : непосредственный.Овечкин Р.М. Новые технологичные СВЧ устройства для перестраиваемых мощных плотноупакованных СВЧ схем и настроечные корпуса для них : специальность 05.12.07 "Антенны, СВЧ устройства и их технологии" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Р. М. Овечкин, 2004. - 16 c. - Текст : непосредственный.Packaging handbook, 1991. - Pag.var. мкф. - Текст : непосредственный.Фадеев А.В. Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии / А. В. Фадеев, 2014. - 22 с. - Текст : непосредственный.Сибагатуллин А.Г. Повышение помехоустойчивости аналого-цифровых систем на кристалле средствами адаптивной коррекции сложных функциональных блоков / А. Г. Сибагатуллин, 2010. - 27 с. - Текст : непосредственный.Красников Г.Я. Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев, 2003. - 383 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыНазаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.
Руднев А.В. Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / А. В. Руднев, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный.Красников Г.Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС / Г.Я.Красников,Н.А.Зайцев, 1999. - 226, 216 с. 216 с. - Текст : непосредственный.Автоматизированный тестовый контроль производства БИС / С.С.Булгаков,Д.Б.Десятов,С.А.Еремин,В.В.Сысоев, 1992. - 192 с. - Текст : непосредственный.Красников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. Ч. 1, 1999. - 226 с. - Текст : непосредственный.Красников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. Ч. 2, 1999. - 216 с. - Текст : непосредственный.Director S.W. VLSI design for manufacturing: yeild enhancement / S.W.Director,W.Maly,A.J.Strojwas, 1990. - XII,291 p. p. - Текст : непосредственный.Ткаченко С.А. Моделирование выхода годных МОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.17.01 / С. А. Ткаченко, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Игнатьев А.С. Электронная Оже-спектроскопия для исследования и контроля технологии СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.10 / А. С. Игнатьев, 1993. - 45 с. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽