Полное описание
Миллер, М. Пер. изд. : Atom probe microanalysis / M. K. Miller, G. D. Smith. - S.l.,s.a. - 1000 экз. - ISBN 5-03-002507-3. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.35.43 543.51.063.08 537.533.35
Рубрики: Микроанализаторы ионные
Микроскопия ионная
Доп. точки доступа: Смит, Г.
Miller, M. K.
Smith, G. D.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-93/7994)
Шифр в сводном ЭК: af1d9018d6f17e368184ebc7a29784ee
Дрейпер Н. Прикладной регрессионный анализ / Н. Дрейпер, Г. Смит, 1973. - 392 с. - Текст : непосредственный. Гильденбург В.Б. Сборник задач по электродинамике : монография / В. Б. Гильденбург, М. А. Миллер, 1993. - 123 c. - Текст : непосредственный. Миллер М. Моя первая книга о компьютере : монография / М. Миллер, 2005. - 348 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
О возможности применения рентгеновского излучения в опытах по получению сверхвысоких температур при ультразвуковой кавитации / Б.Ф. Костенко, М.Б. Миллер, Ю.Н. Покотиловский, 2004. - 8 с. - Текст : непосредственный. Модильяни Ф. Сколько стоит фирма. Теорема ММ : Пер. с англ. / Ф.Модильяни,М.Миллер, 2001. - 271 с. - Текст : непосредственный. Миллер М.Э. Подбор персонала: системный подход : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. экон. наук :08.00.05 / М. Э. Миллер, 2001. - 24 с. - Текст : непосредственный. Миллер М.Ф. Технология легких сплавов : учебное пособие / М. Ф. Миллер; под ред. Е. Г. Деречей, 1933. - 105 с. - Текст : непосредственный. Смит Г. Grails. Гибкость Groovy и надежность Java : пер. с англ. / Г. Смит, П. Ледбрук, 2010. - 651 с. - Текст : непосредственный. Модильяни Ф. Сколько стоит фирма? Теорема ММ : Пер.с англ. / Ф.Модильяни,М.Миллер, 1999. - 271 с. - Текст : непосредственный. Миллер М. YouTube для бизнеса. Эффективный маркетинг с помощь. видео / М. Миллер; пер с англ. М. Фербера, 2012. - 297 с. - Текст : непосредственный. Миллер М.А. Размышления о размышлениях. Две лекции на летних физматшколах / М.А.Миллер, 1992. - 45 с. - Текст : непосредственный. Дрейпер Н.Р. Прикладной регрессионный анализ / Н. Р. Дрейпер, Г. Смит, 2007. - 911 с. - Текст : непосредственный. Орвик П. Windows Driver Foundation. Разработка драйверов : пер. с англ. / П. Орвик, Г. Смит, 2008. - 856 с. - Текст : непосредственный. Миллер М.В. Финансовый механизм развития коммерческой организации : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.10 / М. В. Миллер, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный. Handbook of microscopy for nanotechnology / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
