Приложение
для AndroidПолное описание
Симакин, С. Б. Разработка неразрушающих методов контроля ионно-плазменных процессов формирования тонкопленочных структур и элементов оборудования для создания устройств электронной техники : автореф. дис. ... д-ра техн. наук: 05.27.06 / С. Б. Симакин. - М., 2009. - 48 с. : ил. - Библиогр.: с. 44-48(52 назв.). - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.13.81 | 621.3.049.76:658.562(043) |
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар09-3849)
Шифр в сводном ЭК: 4ff3289b0c3e52f0fd2f1e75dcdf2933
Кузнецов Г.Д. Микро- и нанотехнологии пленочных гетерокомпозиций : учебное пособие / Г. Д. Кузнецов, С. Б. Симакин, Д. Н. Демченкова, 2008. - 190 с. - Текст : непосредственный.Симакин С.Б. Разработка неразрушающих методов контроля ионно-плазменных процессов формирования тонкопленочных структур и элементов оборудования для создания устройств электронной техники : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.06 / С. Б. Симакин, 2009. - 48 с. - Текст : непосредственный.Получение нанометровой шероховатости корпускулярно-лучевыми методами / Е. В. Одинокова, Б. И. Левин, А. В. Молчанов [и др.]. - Текст : непосредственный // "Вакуумная наука и техника" : материалы XX юбил. науч.-техн. конф. с участием зарубежных специалистов, сент. 2013 г. - М. : МИЭМ, 2013. - с. 208-212
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный.Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный.Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный.Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный.Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный.Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽