Приложение
для AndroidПолное описание
Федотов, Я. А. Надежность и контроль качества в интегральной электронике : учеб. пособие / Я.А.Федотов,А.А.Щука. - М. : [б. и.], 1997. - 66 с. : ил. - 300 экз. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Моск. гос. ин-т радиотехники, электроники и автоматики (техн. ун-т). Библиогр.:с.65
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.13.23 | 621.3.049.77.019.3 | |
| 47.01.81 | 621.3.049.77:658.562 | |
| 47.13.81 |
Рубрики:
Интегральные схемы -- Надежность
Интегральные схемы -- Технический контроль
Доп. точки доступа:
Щука, А.А.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-97/31943)
Шифр в сводном ЭК: 0688ed5ec1d52d8573e4abeb08909417
Щука А. А. Наноэлектроника / А. А. Щука, 2007. - 463 с. - Текст : непосредственный.Щука А.А. Электроника: Учеб. пособие / А. А. Щука, 2005. - 799 с. - Текст : непосредственный.Кремниевые планарные транзисторы, 1973. - 335 с. - Текст : непосредственный.Щука А.А. Микроэлектроника СВЧ-диапазона волн / А. А. Щука, 1998. - 78 с. - Текст : непосредственный.Щука А.А. Физтех и физтехи / А. А. Щука, 1996. - 324 c. - Текст : непосредственный.
Федотов Я.А. Инженер электронной техники / Я. А. Федотов, 1976. - 96 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1620) : Процессоры и ЗУ в функциональной электронике / А.А.Щука, 1991. - 40 с. - Текст : непосредственный.Федотов Я.А. Микроэлектроника СВЧ / Я.А.Федотов,А.А.Щука, 1991. - 63 с. - Текст : непосредственный.Щука А.А. Наноэлектроника : учебное пособие / А. А. Щука ; под ред. А. С. Сигова, 2019. - 342 с. - Текст : непосредственный.Федотов Я.А. Интегральная электроника: вчера, сегодня, завтра : Учеб.пособие / Я.А.Федотов,А.А.Щука, 2000. - 39 с. - Текст : непосредственный.Квантовая и оптическая электроника : Учеб. пособие / А. А. Щука [и др.], 2004. - 135 с. - Текст : непосредственный.Щука А.А. Функциональная электроника: формирование направления, создание производительных процессов и запоминающих устройств высокой емкости : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.01 / А. А. Щука, 1999. - 40 с. - Текст : непосредственный.Щука А.А. Наноэлектроника : учеб. пособие / А. А. Щука; под ред. А. С. Сигова, 2012. - 342 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1663) : Процессоры и ЗУ в функциональной электроникеЧ. 2. По данным печати за 1980-1991 гг. / А.А.Щука, 1992. - 73 с. - Текст : непосредственный.Федотов Я.А. Надежность и контроль качества в интегральной электронике : Учеб. пособие / Я.А.Федотов,А.А.Щука, 1997. - 66 с. - Текст : непосредственный.Щука А.А. Функциональная электроника : Учеб.для студентов вузов по спец."Микроэлектроника и полупроводниковые приборы" / А.А.Щука, 1998. - 259 с. - Текст : непосредственный.Щука А.А. Физтех и физтехи / А. А. Щука; под общей редакцией Н. Н. Кудрявцева, 2019. - 314 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный.Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный.Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный.Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный.Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный.Пакет прикладных программ для оценки надежности электронных систем при проектировании и испытаниях : методический материал / Институт технической кибернетики (Минск), 1992. - 36 с. - Текст : непосредственный.Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный.Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыКоролев С.Ю. Повышение надежности интегральных схем в процессе серийного производства методом выравнивающей технологии : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. Ю. Королев, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Потапов Л.А. Методы и средства контроля параметров аналоговых микросхем : выставочные материалы / Л. А. Потапов, В. Ф. Зотин, 2016. - 101 с. - Текст : непосредственный.Обзор отечественной и зарубежной литературы. за 1979-1988 гг.№ 100. Методы повышения отказоустойчивости КМДП интегральных схем / О.А.Титов, 1989. - 40 с. - Текст : непосредственный.Строгонов А.В. Прогнозирование долговечности кремниевых биполярных интегральных схем по параметрическим отказам : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / А. В. Строгонов, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный.Горлов М.И. Физические основы надежности интегральных микросхем : Учеб. пособие / М.И.Горлов,С.Ю.Королев, 1995. - 200 c. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностические методы оценки надежности интегральных схем с использованием шумовых параметров : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2006. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гусев В.А. Надежность элементов микросхем / В. А. Гусев, В. Н. Кузьмин, Н. В. Шевченко, 1979. - 22 л. - Текст : непосредственный.Гадоев С.М. Паразитные эффекты в КМДП ИМС при работе в широком диапазоне температур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук: 05.13.05;05.27.01 / С. М. Гадоев, 1993. - 10 с. - Текст : непосредственный.Бойко В.И. Повышение надежности интегральных схем серии 142 в процессе серийного производства : Диссертация в виде науч.докл.на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / В. И. Бойко, 1995. - 18 с. - Текст : непосредственный.Федотов Я.А. Надежность и контроль качества в интегральной электронике : Учеб. пособие / Я.А.Федотов,А.А.Щука, 1997. - 66 с. - Текст : непосредственный.Архипов А.В. Электродиффузионная надежность тонкопленочного проводника на основе эпитаксиальной пленки алюминия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / А. В. Архипов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный.Винокуров А.А. Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания : специальность: 05.27.01 - Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / А. А. Винокуров, 2019. - 19 с. - Текст : непосредственный.Расчет надежности интегральных схем по конструктивно-технологическим данным / М.И.Горлов,С.Ю.Королев,А.В.Кулаков,А.В.Строгонов, 1996. - 79 c. - Текст : непосредственный.Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, А. В. Строгонов, 2004. - 239 с.Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, А. В. Строгонов, 2004. - 239 с. - Текст : непосредственный.Крылов В.П. Методы и средства параметрического контроля интегральных микросхем : Учеб.пособие / В.П.Крылов, 1998. - 52 с. - Текст : непосредственный.Романцов В.П. Прогнозирование надежности интегральных микросхем по параметрам низкочастотных шумов / В.П.Романцов,М.В.Долганов, 1990. - 60 c. - Текст : непосредственный.Сазонов, Сергей Николаевич. Диагностирование интегральных схем по параметрам нелинейности характеристик энергопотребления / С. Н. Сазонов, 2022. - 190 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.62 Научно-техническая конференция профессорско-преподавательского состава, сотрудников, аспирантов и студентов ВГТУ (г. Воронеж, 27 апреля 2022 г.) : материалы конференции: секции "Материалы и технология полупроводниковых приборов", "Проектирование и надежность полупроводниковых приборов и ИС" / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Воронежский государственный технический университет, 2022. - 44 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Васильев, Федор Владимирович. Физическая надежность электроники / Ф. В. Васильев, 2022. - 159 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽