Полное описание
> Coherent Light Microscopy : imaging and Quantitative Phase Analysis / edited by Pietro Ferraro, Adam Wax, Zeev Zalevsky. ; editor.: P. Ferraro [et al.]. - Berlin ; Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2011. - on-line. - (Springer Series in Surface Sciences ; vol. 46). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15813-1 . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-15813-1. - Текст : электронный. Содержание: > Quantitative Phase Microscopy with Digital Holography Approach with High-Coherence Light Sources -- Quantitative Phase Microscopy with Digital Holography Approach with Low-Coherence Light Sources -- Digital Holographic Microscopy with Femtosecond Laser Sources for Characterization of Fast Dynamic Events and Process -- Quantitative Microscopy with a Photorefractive-Based Principle -- Application of Interference Microscopy in Microfluidics and Optofludics Systems -- Optofluidic-Based Microscope -- Characterization of Optical Microsystems Devices (Microlenses, Liquid Lenses, Integrated Optics Interferometrers, Waveguides, MEMs, MOEMs) -- Super-Resolution in Interference Microscopy -- Microscopy with UV Light Sources -- Microscopy with IR Sources -- 3D Imaging for Analysis and Tracking of Particles in Fluidodynamic Physics -- Visualization of Trapping Systems to Study Paths of Particles -- Optical Coherent Method for Evaluation and Recognition of Bio-Agents -- Special Methods with Fabrication and Characterization of Self-Assembled Structures. Phase Shifting Techniques in Microscopy.
ГРНТИ УДК 29.35.43 620.186
Рубрики: physics
radiology
microscopy
optics
optoelectronics
plasmons (Physics)
biomaterials
nanotechnology
materials science
physics
optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices
biological Microscopy
characterization and Evaluation of Materials
biomaterials
nanotechnology
imaging / Radiology
Аннотация: This book deals with the latest achievements in the field of optical coherent microscopy. While many other books exist on microscopy and imaging, this book provides a unique resource dedicated solely to this subject. Similarly, many books describe applications of holography, interferometry and speckle to metrology but do not focus on their use for microscopy. The coherent light microscopy reference provided here does not focus on the experimental mechanics of such techniques but instead is meant to provide a users manual to illustrate the strengths and capabilities of developing techniques. The areas of application of this technique are in biomedicine, medicine, life sciences, nanotechnology and materials sciences.
Доп. точки доступа: Ferraro, P.\editor.\
Wax, A.\editor.\
Zalevsky, Z.\editor.\
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15813-1
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -486421335)>
Шифр в сводном ЭК: df1f8f2bffe3c62db44f209bb6301332
Stenzel O. The physics of thin film optical spectra / O. Stenzel, 2005 r=on-line. - Текст : электронный. structure of surfaces III : материалы временных коллективов / Ed. S. Y. Tong, 1991. - XVIII,683 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Surface phonons / ed. W. Kress, ed. F. W.de Wette, 1991. - 301 p. - Текст : непосредственный. Lannoo M. Atomic and electronic structure of surfaces : Theoretical foundations / M.Lannoo,P.Friedel, 1991. - XII,256 p. p. - Текст : непосредственный. Dynamics of gas-surface interactions : atomic-level understanding of scattering processes at surfaces / Ed. R. D. Muino, 2013 r=on-line. - Текст : электронный. Kelvin probe force microscopy. Measuring and compensating electrostatic forces / ed.: S. Sadewasser, T. Glatzel, 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Desorption induced by electronic transitions : Proc. of the 4th intern. workshop, Gloggnitz, Oct. 2-4, 1989 / ed.: G. Betz, P. Varga, 1990. - XIV, 392 p. 392 p. - Текст : непосредственный. Auger spectroscopy and electronic structure : Proc.of the first intern. workshop, Messina Sept.10- 14, 1988 / Ed. G. Gubiotti, 1989. - X, 277 p. 277 p. - Текст : непосредственный. Surface science techniques / ed. G. Bracco, B. Holst, 2013 r=on-line. - Текст : электронный. Hofmann S. Auger- and X-ray photoelectron spectroscopy in materials science : a user-oriented guide / S. Hofmann, 2013 r=on-line. - Текст : электронный. Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films / Ed. K. Hinrichs, 2014 r=on-line. - Текст : электронный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты On the construction of artificial brains / SpringerLink (Online service), 2010. - VIII, 359 p. - Текст : непосредственный. Sande S. Taking your ipad to the max / S. Sande, M. Grothaus, E. Sadun, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Sukhoivanov I.A. Photonic crystals / I. A. Sukhoivanov, I. V. Guryev, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Amigo J. Permutation complexity in dynamical systems / J. Amigo, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Hopersky A.N. Scattering of photons by many-electron systems / A. N. Hopersky, V. A. Yavna, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Ghatak K.P. Thermoelectric power in nanostructured materials / K. P. Ghatak, S. Bhattacharya, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Laser processing of materials / SpringerLink (Online service), 2010 r=on-line. - Текст : электронный. New paths towards quantum gravity / SpringerLink (Online service), 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Moniz P.V. Quantum cosmology - the supersymmetric perspective - vol. 2 / P. V. Moniz, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Clusters in nuclei / SpringerLink (Online service), 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Cook N.D. Models of the atomic nucleus / N. D. Cook, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Delion D.S. Theory of particle and cluster emission / D. S. Delion, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Drosg M. Dealing with uncertainties / M. Drosg, 2009 r=on-line. - Текст : электронный. Albanese C.V. Osteoporosi e malattie metaboliche dell’osso / C. V. Albanese, R. Passariello, 2009 r=on-line. - Текст : электронный. Highlights of spanish astrophysics V / SpringerLink (Online service), 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Physics at the large hadron collider / SpringerLink (Online service), 2009 r=on-line. - Текст : электронный. Kamal A.A. 1000 solved problems in modern physics / A. A. Kamal, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Foster J. A short course in general relativity / J. Foster, J. D. Nightingale, 2006 r=on-line. - Текст : электронный. Glendenning N.K. Special and general relativity / N. K. Glendenning, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. HFI/NQI 2007 / SpringerLink (Online service), 2008 r=on-line. - Текст : электронный. Показать все результаты Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Маслов К.И. Методы импульсивной ультразвуковой микроскопии для исследования локальной структуры твердых тел : специальность 01.04.06 "Акустика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / К. И. Маслов, 1993. - 14 14с. - Текст : непосредственный. Acoustic scanning probe microscopy / Ed. F. Marinello, 2013 r=on-line. - Текст : электронный. Жихарев А.В. Разработка устройств для исследования локальной химической структуры поверхности материалов методом химической силовой микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Жихарев, 2004. - 24 с. ил. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Microscopy Today. - Журнал r=on-line. - Текст : электронный. Преображенский М.Н. Физические основы акустической микроскопии : Учеб. пособие / М.Н.Преображенский, 1995. - 64 c. - Текст : непосредственный. Microscopy and Microanalysis. - Журнал выходит с 1995г. r=on-line. - Текст : электронный. Рудых Н.В. Оценка эффективности упрочнения поверхностным пластическим деформированием на основе компьютерной микроскопии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.02.08 / Н. В. Рудых, 2011. - 18 с. - Текст : непосредственный. Мороков Е.С. Импульсная акустическая микроскопия для визуализации малоразмерных элементов в объеме материалов и на границах их соединений : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / Е. С. Мороков, 2018. - 23 с. - Текст : непосредственный. Маев Р.Г. Акустическая микроскопия / Р.Г. Маев, 2005. - 383 с. - Текст : непосредственный. Magnetic resonance microscopy: Spatially resolved NMR techniques and applications / Ed. S. L. Codd, 2009 r=on-line. - Текст : электронный. Маев Р.Г. Методы акустической микроскопии в исследовании микроструктуры и физико-химических свойств материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук :01.04.01 / Р. Г. Маев, 2002. - 50 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Просмотр издания