• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Попков, К. А. О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем / К.А. Попков. - М. : ИПМ им. М. В. Келдыша РАН, 2015. - 20 с. : ил. - (Препринт / Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша (Москва) ; 74 за 2015 г.). - Библиогр.: с. 19-20 (16 назв.). - 59 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    45.03.07621.3.061(04)

    Рубрики:
    Электрические схемы -- Обнаружение неисправностей

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/16400/74 за 2015 г.)

    Шифр в сводном ЭК: c224a5ced9d4d6aec3489d1be89f8e26



    Заказ фрагмента документа ₽