Полное описание
Масловская, А. Г. ISBN 978-5-8044-1069-9. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.19.35 537.226.4:539.16 29.35.43 537.533.35
Рубрики: Сегнетоэлектрики -- Влияние ионизирующих излучений
Микроскопия электронная
Доп. точки доступа: Копылова, И.Б.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-10/70386)
Шифр в сводном ЭК: 77af6e9145ce4c4347f5e9c711df78d6
Масловская А.Г. Математическое моделирование процессов взаимодействия электронных пучков с полярными диэлектриками : специальность 05.13.18 "Математическое моделирование,численные методы и комплексы программ" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Г. Масловская, 2014. - 30 с. - Текст : непосредственный. Кван Н.В. Введение в дискретную математику : Учеб. пособие / Н. В. Кван, А. Г. Масловская, 2006. - 121 с. - Текст : непосредственный. Копылова И.Б. Инжекция электронного зонда растрового электронного микроскопа в монокристаллы триглицинсульфата : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / И. Б. Копылова, 1996. - 20 с. - Текст : непосредственный. Масловская А.Г. Взаимодействие электронных пучков средних энергий с сегнетоэлектрическими материалами / А. Г. Масловская, И. Б. Копылова, 2010. - 203 с. - Текст : непосредственный. Павельчук А.В. Математические и компьютерные модели полевых эффектов воздействия электронного облучения на полярные диэлектрики : монография / А. В. Павельчук, А. Г. Масловская, 2019. - 199 с. - Текст : непосредственный. Масловская А.Г. Моделирование взаимодействия электронных пучков с полярными диэлектриками : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / А. Г. Масловская, 2004. - 23 c. - Текст : непосредственный. Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Яценко С.О. Получение и свойства тонких сегнетоэлектрических пленок титаната свинца : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / С. О. Яценко, 1998. - 15 с. - Текст : непосредственный. Сасов А.С. Динамика поляризации кристаллов с электрическими диполь-дипольными взаимодействиями в присутствии сильных электрических и акустических полей : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. С. Сасов, 2006. - 24 с. - Текст : непосредственный. Сегнетомагнитные вещества : сборник научных трудов / Научно-исследовательский физ.-хим. ин-т им. Л. Я. Карпова (Москва), 1990. - 184 c. - Текст : непосредственный. Никишина А.И. Релаксация доменной структуры водородсодержащих сегнетоэлектриков, стимулированная термическим и полевым воздействием / А. И. Никишина, 2008. - 20 с. - Текст : непосредственный. Погорельцев Е.И. Теплофизические свойства ряда фторкислородных сегнетоэластиков и сегнетоэлектриков / Е. И. Погорельцев, 2010. - 19 с. - Текст : непосредственный. Пугачев А.М. Экспериментальные исследования фотогальванического эффекта в кристаллах ниобата лития : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. М. Пугачев, 2000. - 21 с. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Ferroelectric thin films / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Rabe K.M. Modern ferroelectrics / K. M. Rabe, J. Triscone, C. H. Ahn, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Емельянов Н.А. Структура и диэлектрические свойства наночастиц BaTiO3 с модифицированной поверхностью и композитного материала на их основе / Н. А. Емельянов, 2015. - 19 с. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Наумова Ю.Ю. Механизм формирования и свойства тонких пленок станнатов свинца и твердых растворов станната - титаната свинца : специальность 02.00.21 "Химия твердого тела" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Ю. Ю. Наумова, 2004. - 22 с. - Текст : непосредственный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова, 1974. - 319 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный. Handbook of microscopy for nanotechnology / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
