Приложение
для AndroidПолное описание
Tuniz, C. Doubly bent crystals for X-ray microfocusing applications:calculation of the energy bandpass / C.Tuniz,F.Zanini,F.Zontone. - S.l. : [s. n.], 1990. - 11 p. : ill. - ([Pubblicazione] INFN / Ist.naz.di fisica nucleare ; TC-90/15). - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с.11
| ГРНТИ | УДК | |
| 31.19 | 543.422.8.063 |
Рубрики:
Рентгеноспектральный анализ микрохимический
Доп. точки доступа:
Zanini, F.
Zontone, F.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/5815/TC-90/15)
Шифр в сводном ЭК: f9a17f4410cd9a686725633f1eee0295
Tuniz C. Doubly bent crystals for X-ray microfocusing applications:calculation of the energy bandpass / C.Tuniz,F.Zanini,F.Zontone, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный.[Pubblicazione] INFN / Ist.naz.di fisica nucleare. TC-90/19 : Probing the environment with accelerator-based techniques / C.Tuniz,F.Zanini,K.W.Jones, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный.
Properties of ruthenium oxide resistors as sensitive elements of composite bolometers / R. Dambra, G. Gallinaro, F. Gatti, S. Vitale, 1990. - 12 p. - Текст : непосредственный.Proposed architecture of a flexible small-scale parallel system for the control of a detector array / S. Aiello, A. Anzalone, M. Bartolucci, G. Cardella, 1998. - 8 p. - Текст : непосредственный.Limits on dark matter WIMPs using upward-going muons in the MACRO detector / M. Ambrosio, R. Antolini, C. Aramo, G. Auriemma, 1999. - 19 p. - Текст : непосредственный.Bilei G.M. A PC based silicon data acquisition system / G. M. Bilei, B. Checcucci, J. Ding, 1994. - 11 p. - Текст : непосредственный.silicon pad shower maximum detector for a "shashlik" calorimeter / S. J. Alvsvaag, O. A. Maeland, A. Klovning, A. C. Benvenuti, 1995. - 6 p. - Текст : непосредственный.Белоглазов А. High brightness electron beams induced by excimer lasers on metal targets / А. Белоглазов, M. Martino, V. Nassini, 1995. - 20 p. - Текст : непосредственный.Search for WIMP annual modulation signature: results from DAMA/NaI-3 and DAMA/NaI-4 and the global combined analysis / R. Bernabei, P. Belli, R. Cerulli, F. Montecchia, 2000. - 14 p. - Текст : непосредственный.Search for Ey > 5.10 13 eV y-ray transients through the BAKSAN and EAS-TOP correlated data / M. Aglietta, B. Alessandro, В. В. Алексеенко, Ю. М. Андреев, 2000. - 21 p. - Текст : непосредственный.Farinon S. Detailed field distribution in CMS winding / S. Farinon, P. Fabbricatore, R. Musenich, 2000. - 10 p. - Текст : непосредственный.Farinon S. Stress on cold mass due to the supporting system of the CMS coil in the vacuum tank / S. Farinon, P. Fabbricatore, 2000. - 16 p. - Текст : непосредственный.Rached M.Z. Localized Superluminal solutions to Maxwell equations propagating along a normal-size waveguide / M. Z. Rached, E. Recami, F. Fontana, 2000. - 15 p. - Текст : непосредственный.Olkhovsky V.S. Tunneling through two successive barriers and the Hartman (superluminal) effects / V. S. Olkhovsky, E. Recami, G. Salesi, 2000. - 8 p. - Текст : непосредственный.Barbero A.P.L. On the propagation speed of evanescent modes / A. P.L. Barbero, H. E. Hernandez-Figueroa, E. Recami, 2000. - 21 p. - Текст : непосредственный.Recami E. Special Relativity and Superluminal motions: a discussion of some recent experiments / E. Recami, F. Fontana, R. Garavaglia, 2000. - 26 p. - Текст : непосредственный.Bosotti A. On line monitoring of the TTF cryostats cold mass with wire position monitors / A. Bosotti, C. Pagani, G. Varisco, 2000. - 26 p. - Текст : непосредственный.Stern-Gerlach interaction between a traveling particle and a time varying magnetic field / M. Conte, M. Ferro, G. Gemme, W. W. MacKay, 2000. - 14 p. - Текст : непосредственный. Piemonte C. Influence of the leakage current on the performance of large area silicon drift detectors / C. Piemonte, A. Rashevsky, D. Nouais, 2000. - 18 p. - Текст : непосредственный.Production of heavy ion beams by operating Serse in DC mode and afterglow mode / S. Gammino, G. Ciavola, L. Celona, A. Girard, 2000. - 7 p. - Текст : непосредственный.Volpini G. model of the current distribution inside the resistive joints of the atlas toroids / G. Volpini, 2000. - 33 p. - Текст : непосредственный.RF control and detection system for PACO the parametric converter detector / P. Bernard, G. Gemme, R. Parodi, E. Picasso, 2000. - 12 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыГольц Л.Г. Вольтамперометрическое определение рения в минеральном и техногенном сырье : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Л. Г. Гольц, 2006. - 22 с. - Текст : непосредственный.Романенко С.В. Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / С. В. Романенко, 2006. - 44 с. - Текст : непосредственный.Никитина Д.В. Ионные ловушки в динамической масс-спектрометрии : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. В. Никитина, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный.Кирющенков Е.Н. Каталитические и сорбционно-каталитические методы определения металлов с использованием реакции окисления 3,3',5,5'-тетраметилбензидина периодатом : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Е. Н. Кирющенков, 2006. - 25 с. - Текст : непосредственный.Заруцкий И.В. Алгоритмы и программы первичной обработки масс-спектрометрических сигналов для автоматизации изотопного и элементного анализа : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. В. Заруцкий, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный.Фрезениус, Карл Ремигий. Руководство к качественному химическому анализу : монография / Р. Фрезениус, 1864. - III, 652, XI с. - Текст : непосредственный.Бурылин М.Ю. Атомно-абсорбционное определение гидридобразующих и легколетучих элементов в объектах окружающей среды - проблемы и аналитические решения : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / М. Ю. Бурылин, 2008. - 45 с. - Текст : непосредственный.Количественные методы в масс-спектрометрии / И. Лаваньини, Ф. Маньо, Р. Сералья, П. Тральди, 2008. - 175 с. - Текст : непосредственный.Сараева С.Ю. Графитсодержащие сенсоры в инверсионной вольтамперометрии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Сараева, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный.Cyganski A. Metody spektroskopowe w chemii analitycznej / A. Cyganski, 1993. - 378 s. - Текст : непосредственный.Сильверстейн Р. Спектрометрическая идентификация органических соединений / Р. Сильверстейн, Ф. Вебстер, Д. Кимл, 2012. - 557 с. - Текст : непосредственный.Задачник по аналитической химии / Н. Ф. Клещев, Е. А. Алферов, Н. В. Базалей, 1993. - 223 c. - Текст : непосредственный.Нехаевский С.Ю. Экстракция хлоридов кадмия и цинка три-н-бутилфосфатом : специальность 05.17.02 "Технология редких, рассеянных и радиоактивных элементов" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Нехаевский, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Окотруб А.В. Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия высокого разрешения с использованием органических кристаллов-анализаторов и анализ электронной структуры молекулярных и конденсированных соединений 2P-элементов : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / А. В. Окотруб, 2000. - 40 с. - Текст : непосредственный.Bender C.J. Computational and instrumental methods in EPR / C. J. Bender, L. J. Berliner, 2007 r=on-lineMartin D.K. Nanobiotechnology of biomimetic membranes / D. K. Martin, 2007 r=on-lineVerma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Васильев В.П. Аналитическая химия : Учебник для студентов вузов по хим.-технол.спец. Кн. 1(2007) : Титриметрические и гравиметрический методы анализа, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный.Твердофазная колориметрия / С. В. Качин, О. Н. Кононова, О. П. Калякина, 1997. - 101 с. - Текст : непосредственный.Гусев А.Я. Времяпролетный масс-спектрометр с увеличенной эффективной областью собирания ионов / А. Я. Гусев, В. А. Кочнев, Г. Г. Манагадзе, 1991. - 26 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыТронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Электронно-зондовый микроанализ, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный.Применение кластерного анализа и метода главных компонент для определения фазового состава негомогенных образцов количественным микрорентгеноспектральным методом / И.И.Бондаренко,В.В.Резвицкий,Б.А.Трейгер,Л.Н.Мазалов, 1990. - 57 с. - Текст : непосредственный.Мир физики и техники. 2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : Учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.], 2009. - 206 с. - Текст : непосредственный.Tuniz C. Doubly bent crystals for X-ray microfocusing applications:calculation of the energy bandpass / C.Tuniz,F.Zanini,F.Zontone, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный.Сахаров, Никита Владимирович. Электронно-зондовый рентгеновский микроанализ : учебное пособие / Н. В. Сахаров, М. А. Фаддеев; под редакцией В. Н. Чувильдеева, 2022. - 108 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Электронно-зондовый микроанализ, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный.
Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов / Л.А.Павлова,О.Ю.Белозерова,Л.Ф.Парадина,Л.Ф.Суворова;Отв.ред.А.Г.Ревенко, 2000. - 223 с. - Текст : непосредственный.Руколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный.Мир физики и техники. 2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : Учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.], 2009. - 206 с. - Текст : непосредственный.Tuniz C. Doubly bent crystals for X-ray microfocusing applications:calculation of the energy bandpass / C.Tuniz,F.Zanini,F.Zontone, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный.Белозерова О.Ю. Модификация биэкспоненциальной модели в рентгеноспектральном микроанализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / О. Ю. Белозерова, 1997. - 21 с. - Текст : непосредственный.Болохова Т.А. Развитие микрорентгеноспектрального метода в ультрадлинноволновой области с применением ЭВМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / Т. А. Болохова, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный.Сахаров, Никита Владимирович. Электронно-зондовый рентгеновский микроанализ : учебное пособие / Н. В. Сахаров, М. А. Фаддеев; под редакцией В. Н. Чувильдеева, 2022. - 108 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽