Полное описание
> Алешина, Л. А. Искаженные кристаллы. Анализ дифракционных линий : учеб. пособие / Л.А.Алешина,О.Н.Шиврин. - Петрозаводск : [б. и.], 2002. - 125 с. : ил. - 100 экз. - Текст : непосредственный. В надзаг.: Петрозавод гос. ун-т. Библиогр.: с. 120
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
Доп. точки доступа: Шиврин, О.Н.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-02/75414)>
Шифр в сводном ЭК: cd920cde7c3f2e08154c2729ab085796
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Алешина Л.А. Рентгеновская флуоресценция : учебное пособие для студентов физико-технического института / Л. А. Алешина, 2016. - 29 с. - Текст : непосредственный. Гуртов В.А. Физика твердого тела для инженеров : учеб. пособие / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко; науч. ред. Л. А. Алешина, 2012. - 558 с. - Текст : электронный. Структура и физико-химические свойства целлюлоз и нанокомпозитов на их основе / Л. А. Алешина [и др.], 2014. - 240 с. - Текст : непосредственный. Энциклопедический справочник по бурению на нефть и газ / С. А. Оганов [и др.].; гл. ред. Ю. В. Вадецкий, А. С. Оганов, 2006. - 486 с. - Текст : непосредственный. Алешина Л.А. Рентгенография кристаллов : Учеб. пособие / Л.А.Алешина,О.Н.Шиврин, 2004. - 319 с. - Текст : непосредственный. Алешина Л.А. Совершенствование управления текущими затратами на предприятиях АПК (по материалам перерабатывающих предприятий молочной промышленности Алтайского края) : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.05 / Л. А. Алешина, 2002. - 24 с. - Текст : непосредственный. Екимова Т.А. Дифракция рентгеновских лучей в поликристаллах / Т. А. Екимова, Л. А. Алешина, 2016. - 38 с. - Текст : непосредственный. Алешина Л.А. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей. Получение информации о структурных характеристиках : Учеб. пособие / Л.А.Алешина,О.Н.Шиврин, 2002. - 107 с. - Текст : непосредственный. Алешина Л.А. Физика и применение рентгеновский лучей : Учеб. пособие / Л.А.Алешина,О.Н.Шиврин, 2001. - 115 с. - Текст : непосредственный. Алешина Л.А. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах : Учеб. пособие / Л.А.Алешина,О.Н.Шиврин, 2001. - 100 с. - Текст : непосредственный. Алешина Л.А. Искаженные кристаллы. Анализ дифракционных линий : Учеб. пособие / Л.А.Алешина,О.Н.Шиврин, 2002. - 125 с. - Текст : непосредственный. Малиненко В.П. Физические явления и эффекты для получения и преобразования информации : Учеб. пособие / В. П. Малиненко, Л. А. Алешина, А. М. Ильин, 2003. - 124 с. - Текст : непосредственный. Сойфер Г.Б. ЯКР спектроскопия и молекулярные движения в твердых телах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Г. Б. Сойфер, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный. Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный. Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный. Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный. Electron scattering in solid matter / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный. Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный. Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный. Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный. Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный. Recalo M.P. Complete experiment for dp and He, d backward elastic scattering / M. P. Recalo, Н. М. Пискунов, И. М. Ситник, 1997. - 17 p. - Текст : непосредственный. Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный. Нейтронный дифрактометр по времени пролета на импульсном бустере ИБР-30 / А. М. Балагуров, А. А. Никитин, В. Е. Новожилов, 1991. - 12 с. - Текст : непосредственный. Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ: основные представления о методах исследования структуры конденсированных сред / А. Н. Бабушкин, 2002. - 103 с. - Текст : непосредственный. Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный. Сергеев Н.А. Форма спиновых откликов ЯМР в твердых телах с внутренней подвижностью : специальность 01.07.03 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Н. А. Сергеев, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный. Карасев П.А. Особенности рассеяния быстрых электронов на тепловых колебаниях при прохождении через тонкие кристаллы : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников", 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. А. Карасев, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный. Вековой путь дифракции рентгеновских лучей : сборник / Российская Академия Наук. Сибирское отделение, 2012. - 172 с. - Текст : непосредственный. Работы по комплексной рентгеновской диагностике материалов на станции "структурное материаловедение" курчатовского источника синхротронного излучения в 2007 году / А. А. Велигжанин, Е. В. Гусева, С. Н. Заглубоцкий [и др.], 2008. - 58 с. - Текст : непосредственный. Кацнельсон А.А. Рассеяние рентгеновских лучей конденсированными средами / А. А. Кацнельсон, 1991. - 96 c. - Текст : непосредственный. Stanglmeier F. Bestimmung der dispersiven Korrektur f'(E) zum Atomformfaktor aus der Totalreflexion von Rontgenstrahlen / F. Stanglmeier, 1990. - 151 S. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Андреева В.Д. Рентгенография и электронная микроскопия. Электронная микроскопия материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, И. И. Горшков, 2017. - 142 с. - Текст : непосредственный. Суворов Э.В. Экспериментальное обнаружение явления дифракционной фокусировки рентгеновских лучей : (препринт) / Э. В. Суворов, В. И. Половинкина, 1974. - 4 с. - Текст : непосредственный. Андреева В.Д. Основы рентгеновского анализа материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, 2019. - 84 с. - Текст : непосредственный. Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов,обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, 1994. - 328 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный. Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный. Baryshevsky V.G. Parametric x-ray radiation in crystals / V. G. Baryshevsky, I. D. Feranchuk, A. P. Ulyanenkov, 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный. Gamma-ray Diffractometer at the ET-RR-1 Reactor for Material Science Research / A. I. Kurbakov, R. M. Maayouf, A. E. Sokolov, 1994. - 22 p. - Текст : непосредственный. Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный. Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный. Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный. Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный. Болотина Н.Б. Рентгеноструктурные исследования модулированных фаз в монокристаллах К (NbO)[Si O],BaAl Si O ,H O, Ba Ti O и Na TiP O : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Н. Б. Болотина, 1995. - 25 с. - Текст : непосредственный. Носков А.В. Эффекты динамической дифракции в когерентном рентгеновском излучении релятивистских электронов в кристаллах / А. В. Носков, 2010. - 27 с. - Текст : непосредственный. Вековой путь дифракции рентгеновских лучей : сборник / Российская Академия Наук. Сибирское отделение, 2012. - 172 с. - Текст : непосредственный. Голуб Ю.В. Методы расчета рентгеновских фокусирующих систем : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ю. В. Голуб, 1996. - 23 с. - Текст : непосредственный. Работы по комплексной рентгеновской диагностике материалов на станции "структурное материаловедение" курчатовского источника синхротронного излучения в 2007 году / А. А. Велигжанин, Е. В. Гусева, С. Н. Заглубоцкий [и др.], 2008. - 58 с. - Текст : непосредственный. Турьянский А.Г. Рентгеновская рефрактометрия и относительная рефлектометрия слоистых наноструктур : специальность 01.04.05 "Оптика" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Г. Турьянский, 2009. - 43 с. - Текст : непосредственный. Овчинникова Е.Н. Резонансная дифракция рентгеновского и мессбауэровского излучения в регулярных, модулированных и дефектных кристаллах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Е. Н. Овчинникова, 2001. - 31 с. - Текст : непосредственный. Кацнельсон А.А. Рассеяние рентгеновских лучей конденсированными средами / А. А. Кацнельсон, 1991. - 96 c. - Текст : непосредственный. Босак А.А. Методы анализа неупругого рассеяния рентгеновского излучения для определения параметров атомной динамики функциональных материалов : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. А. Босак, 2010. - 32 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽