Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Yablon A.D. Optical fiber fusion splicing / A. D. Yablon, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Progress in nano-electro-optics IV / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Kramers-Kronig relations in optical materials research / V. Lucarini, E. M. Vartiainen, J. J. Saarinen, K. Peiponen, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Goetzberger A. Photovoltaic solar energy generation / A. Goetzberger, V. U. Hoffmann, T. Asakura, F. Krausz [et al.], 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Photorefractive materials and their applications 1 / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineKoechner W. Solid-state laser engineering / W. Koechner, 2006 r=on-lineRelative nonlinear electrodynamics / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineKozlowski M. Thermal processes using attosecond laser pulses / M. Kozlowski, J. Marciak-Kozlowska, 2006 r=on-lineMid-infrared semiconductor optoelectronics / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineAizu Y. Spatial filtering velocimetry / Y. Aizu, T. Asakura, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Progress in nano-electro-optics V / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Optical interconnects / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Wavelength filters in fibre optics / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Laser ablation and its applications / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-lineSirenko Y.K. Modeling and analysis of transient processes in open resonant structures / Y. K. Sirenko, N. P. Yashina, S. StrГ¶m, 2007 r=on-linePhotorefractive materials and their applications 2 / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-linePhotorefractive materials and their applications 3 / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-lineHigh power diode lasers / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-lineOughstun K.E. Electromagnetic and optical pulse propagation 1 / K. E. Oughstun, 2007 r=on-line
Показать все результатыСолдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный.Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный.Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный.Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный.Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный.Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный.Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный.Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный.Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыМиронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный.Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный.Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный.
Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова, 1974. - 319 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Verma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Мазалов Л.Н. Рентгеновские спектры / Л. Н. Мазалов, 2003. - 328 с. - Текст : непосредственный.Алексеев А.В. Развитие метода Дебая-Шеррера для характеризации кристаллических фаз, представленных в микроколичествах / А. В. Алексеев, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Научные школы рентгеновской и рентгеноэлектронной спектроскопии России : монография / Э. П. Домашевская, А. С. Шулаков, В. Л. Сухоруков [и др.], 2015. - 329 с. - Текст : непосредственный.Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Определение свойств веществ и материалов по зависимостям спектр-свойства и цвет-свойства : материалы временных коллективов / "Нефтегазтехнология", науч.-произв. об-ние (Уфа), 1998. - 50 с. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный.EXAFS and near edge structure III : материалы временных коллективов / Ed. K. O. Hodgson, 1984. - XV,533 p. p. - Текст : непосредственный.Carr-Brion K. X-ray analysers in process contol / K. Carr-Brion, 1989. - X,161 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽