Полное описание
International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York). Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York) . - New York : [s. n.], 1996. - 585-1576 p. p. - (Journal of vacuum science & technology B ; vol.14,N 2,1996). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.31.26 539.2.01(063) 29.35.43 537.533.35(063)
Рубрики: Туннельная спектроскопия -- Съезды и конференции
Микроскопия туннельная -- Съезды и конференции
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W8873/Vol.14,N 2,1996)
Шифр в сводном ЭК: ce4a9f9992e052c560b09bcad71535ec
Papers from the 26th conference on the physics and chemistry of semiconductor interfaces, 17-21 Jan.1999, San Diego(Ca) / Conference on the physics and chemistry of semiconductor interfaces (26th ; 1999 ; San Diego(Ca)) , 1999. - 1309-1895 p. p. - Текст : непосредственный. Microelectronics and nanometer structures: processing,measurement, and phenomena : материалы временных коллективов / Ed. G. E. McGuire, 1998. - 482 p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Papers from the 17th North American conference on molecular beam epitaxy, 4-7 Oct., 1998 / North American conference on molecular beam epitaxy (17th ; 1998 ; Pennsylvania) , 1999. - A20,905-1308 p. p. - Текст : непосредственный. Papers from the 11th International vacuum microelectronics conference. Papers from the fourth International plasma-based ion implantation workshop / International vacuum microelectronics conference (11 ; 1999 ; New York) , 1999. - A18,259-904,A25 p. p. - Текст : непосредственный. Papers from the eighth International vacuum microelectronics conference ,31 July-3 Aug.1995,Portland (Or) and Papers from the 15th North American conference on molecular beam epitaxy,17-20 Sept.1995,College Park(Md) / IVMC'95, 1996. - 1577-2398 p. p. - Текст : непосредственный. Papers from the fifth International workshop on the measurement, characterization, and modeling of ultra-shallow doping profiles in semiconductors / International workshop on the measurement, characterization, and modeling of ultra-shallow doping profiles in semiconductors (5 ; [1999] ; S.l.) , 2000. - A15,606 p. p. - Текст : непосредственный. Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York) , 1996. - 585-1576 p. p. - Текст : непосредственный. Papers from the 39th International conference on electron,ion and photon beam technology and nanofabrication / International conference on electron, ion, and photon beam technology and nanofabrication (39; 1995; S.l.), 1995. - A22,2153-3235 p. p. - Текст : непосредственный. Papers from the 14th international vacuum microelectronics conference, 12-16 Aug., 2001, Davis(Ca) / IVMC-2001, 2003. - A18,632 p. p. - Текст : непосредственный. Papers from ninth international vacuum microelectronics conference : 7-12 July 1996,St.Petersburg / International vacuum microelectronics conference (9th ; 1996 ; St.Petersburg) , 1997. - 181-541 p. p. - Текст : непосредственный. Microelectronics and nanometer structures:Processing,measurement,and phenomena : Papers from the 24th annu.conf.on the physics and chemistry..and 4th intern.conf.on nanometer-scale science and technology ,New York,1997, 1997. - 763-1593 A24 p. A24 p. - Текст : непосредственный. Papers from the 41st international conference on electron,ion,and photon beam technology and nanofabrication,27-30 May 1997,Dona Point(Ca) / International conference on electron, ion, and photon beam technology and nanofabrication (41st; 1997; Dona Point,Ca), 1997. - 1853-3075 p. p. - Текст : непосредственный. Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Михнов С.А. Особенности спектроскопии необлученных и гамма-облученных щелочно-галоидных кристаллов. 1 / С. А. Михнов, 1990. - 48 с. - Текст : непосредственный. Михнов С.А. Особенности спектроскопии необлученных и гамма-облученных щелочно-галоидных кристаллов. Ч.2 / С. А. Михнов, 1990. - 34 с. - Текст : непосредственный. Яшков Д.А. Исследование методов обработки интерферограмм фурье-спектрометра для повышения точности спектрометрической информации : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Д. А. Яшков, 1998. - 21 с. - Текст : непосредственный. Летохов В.С. Лазерная спектроскопия колебательно-возбужденных молекул / В. С. Летохов, В. С. Летохов, Е. А. Рябов, А. А. Макаров, 1990. - 278 c. - Текст : непосредственный. Понуровский Я.Я. Прецизионные измерения контура спектральной линии методами диодной лазерной спектроскопии : специальность 01.04.21 "Лазерная физика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Я. Я. Понуровский, 2000. - 22 с. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Stenzel O. The physics of thin film optical spectra / O. Stenzel, 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Neutron and x-ray spectroscopy / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line Time-resolved spectroscopy in complex liquids / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-line Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Мадвалиев Умархон.Разработка новых методов фотоакустической спектроскопии конденсированных сред : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Мадвалиев Умархон, 2007. - 44 с. - Текст : непосредственный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Дацко В.С. Фильтрация спектрометрических сигналов с помощью преобразования Фурье / В. С. Дацко, 1993. - 13 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Проблемы спектроскопии и спектрометрии : вуз.-акад. период. сб. науч. тр. / Урал. федер. ун-т им. первого Президента России Б. Н. Ельцина. Вып. 35, 2016. - 168 с. - Текст : непосредственный. Митюрич Г.С. Фотоакустическая спектроскопия гиротропных сред : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Г. С. Митюрич, 1997. - 32 с. - Текст : непосредственный. Денисов И.П. Спектральные измерения : выставочные материалы / И. П. Денисов, 2010. - 82 с. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
