Полное описание
> Проект экспериментальной станции "Монокристальная дифрактометрия" на канале синхротронного излучения накопителя ВЭПП-4 / Б.П.Толочко,И.Л.Жогин,А.В.Наумов,А.В.Успенский. - Новосибирск : [б. и.], 2002. - 35 с. - (Препринт / Институт ядерной физики им. Г.И.Будкера ; ИЯФ 2002-3). - 95 экз. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.19.19 548.73.08(04)
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Доп. точки доступа: Толочко, Б.П.
Жогин, И.Л.
Наумов, А.В.
Успенский, А.В.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/8183/ИЯФ 2002-3)>
Шифр в сводном ЭК: db32f84c827dc13698752cf6ac626090
Наумов А.В. Совершенствование средств повышения экологической безопасности тракторов путем снижения уровня шума (на примере трактора "Кировец") / А. В. Наумов, 2011. - 19 с. - Текст : непосредственный. Наумов А.В. Экстремальное управление динамическими объектами с использованием алгоритмов последовательного симплексного поиска : специальность 05.13.14 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Наумов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный. Кибзун А.И. Теория вероятностей и математическая статистика. Базовый курс с примерами и задачами : учебное пособие / А. И. Кибзун, Е. Р. Горяинова, А. В. Наумов, 2007. - 231 с. - Текст : непосредственный. Исследование методами in situ дифрактометрии синхротронного излучения образования упорядоченных структур из наночастиц серебра при термическом изложении его карбоксилатов / Б. П. Толочко, Б. Б. Бохонов, В. М. Титов, М. Р. Шарафутдинов, 2009. - 11 с. - Текст : непосредственный. Страховский Г.М. Основы квантовой электроники, 1973. - 312 с. - Текст : непосредственный. Гаврилов Н.Г. Напряженная фрикционная передача и ее применение в прецизионной механике / Н. Г. Гаврилов, Б. П. Толочко, 1996. - 16 c. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Коррозия и защита сооружений на электрифицированных железных дорогах / А. В. Котельников, В. И. Иванова, Э. П. Селедцов, А. В. Наумов; под общей редакцией канд. техн. наук А. В. Котельникова, 1974. - 149, [3] с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Сойфер Г.Б. ЯКР спектроскопия и молекулярные движения в твердых телах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Г. Б. Сойфер, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный. Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный. Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный. Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный. Electron scattering in solid matter / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный. Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный. Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный. Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный. Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный. Recalo M.P. Complete experiment for dp and He, d backward elastic scattering / M. P. Recalo, Н. М. Пискунов, И. М. Ситник, 1997. - 17 p. - Текст : непосредственный. Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный. Нейтронный дифрактометр по времени пролета на импульсном бустере ИБР-30 / А. М. Балагуров, А. А. Никитин, В. Е. Новожилов, 1991. - 12 с. - Текст : непосредственный. Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ: основные представления о методах исследования структуры конденсированных сред / А. Н. Бабушкин, 2002. - 103 с. - Текст : непосредственный. Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный. Сергеев Н.А. Форма спиновых откликов ЯМР в твердых телах с внутренней подвижностью : специальность 01.07.03 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Н. А. Сергеев, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный. Карасев П.А. Особенности рассеяния быстрых электронов на тепловых колебаниях при прохождении через тонкие кристаллы : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников", 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. А. Карасев, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный. Вековой путь дифракции рентгеновских лучей : сборник / Российская Академия Наук. Сибирское отделение, 2012. - 172 с. - Текст : непосредственный. Работы по комплексной рентгеновской диагностике материалов на станции "структурное материаловедение" курчатовского источника синхротронного излучения в 2007 году / А. А. Велигжанин, Е. В. Гусева, С. Н. Заглубоцкий [и др.], 2008. - 58 с. - Текст : непосредственный. Кацнельсон А.А. Рассеяние рентгеновских лучей конденсированными средами / А. А. Кацнельсон, 1991. - 96 c. - Текст : непосредственный. Stanglmeier F. Bestimmung der dispersiven Korrektur f'(E) zum Atomformfaktor aus der Totalreflexion von Rontgenstrahlen / F. Stanglmeier, 1990. - 151 S. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Андреева В.Д. Рентгенография и электронная микроскопия. Электронная микроскопия материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, И. И. Горшков, 2017. - 142 с. - Текст : непосредственный. Суворов Э.В. Экспериментальное обнаружение явления дифракционной фокусировки рентгеновских лучей : (препринт) / Э. В. Суворов, В. И. Половинкина, 1974. - 4 с. - Текст : непосредственный. Андреева В.Д. Основы рентгеновского анализа материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, 2019. - 84 с. - Текст : непосредственный. Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов,обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, 1994. - 328 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽