• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Гафуров, О. В. Исследование влияния радиации на дефектообразование и электрофизические свойства полупроводниковых структур и приборов : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / О. В. Гафуров. - Душанбе, 2002. - 20 с. : ил. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.: с. 20(8 назв.)

    ГРНТИ УДК
    47.33621.382:539.16(043)
    29.19.31537.311.322:539.16(043)
    537.311.322:537(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар03-4745)

    Шифр в сводном ЭК: 3f293d4b728991405f4fcb5d2b2fc6b6



    Заказ фрагмента документа ₽