Полное описание
Столяренко, Ю. А.
ГРНТИ УДК 47.13.81 621.3.049.77.002:658.562(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар06-10098)
Шифр в сводном ЭК: 2eaeeaece3d1a8bb61c4af8dbc78b7fe
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Захаров А.Г. Диагностика глубоких энергетических уровней в полупроводниковых структурах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.01 / А. Г. Захаров, 1990. - 33 с. - Текст : непосредственный. Бухалов Л.Л. Физико-химические процессы при формировании активных структур на поверхности арсенида галлия и их оптический контроль при создании интегральных схем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук: 02.00.04 / Л. Л. Бухалов, 1993. - 19 с. - Текст : непосредственный. Остроухов С.С. Повышение качества и надежности серийного производства МДП ИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.27.01 / С. С. Остроухов, 2001. - 16 с. - Текст : непосредственный. Королев А.А. Методы и средства повышения эффективности контроля качества микросхем в процессе производства : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.13 / А.А. Королев, 2005. - 18 с. - Текст : непосредственный. Баранов В.В. Конструктивно-технологические методы обеспечения качества силицид- и оксидсодержащих блоков токопроводящих систем изделий полупроводниковой электроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.01 / В. В. Баранов, 1990. - 51 с. - Текст : непосредственный. Чернышов А.А. Разработка интегральных сорбционных преобразователей влажности и температуры для контроля атмосферы в корпусах интегральных микросхем и методик определения тепловых сопротивлений корпусов и содержания влаги в их объеме : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / А. А. Чернышов, 1991. - 27 с. - Текст : непосредственный. Бордюжа О.Л. Диагностический контроль качества и надежности кремниевых биполярных интегральных схем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / О. Л. Бордюжа, 1999. - 17 с. - Текст : непосредственный. Столяренко Ю.А. Контроль кристаллов интегральных схем на основе статистического моделирования методом точечных распределений : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Ю. А. Столяренко, 2006. - 17 с. - Текст : непосредственный. Чистякова С.В. Разработка методов аттестации конструкции ИС по надежностным критериям : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / С. В. Чистякова, 1994. - 19 с. - Текст : непосредственный. Аникин А.В. Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.14 / А. В. Аникин, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный. Шишкина Н.А. Методы контроля содержания паров воды в подкорпусном объеме интегральных схем : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Н. А. Шишкина, 2007. - 15 с. - Текст : непосредственный. Преженцев М.Д. Разработка и внедрение в условиях массового производства методики отбраковки потенциально-ненадежных полупроводниковых приборов и интегральных схем, основанной на использовании коронного разряда : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / М. Д. Преженцев, 1995. - 13 с. - Текст : непосредственный. Барсов В.С. Оптимизация методов контроля основных параметров комплементарных МОП интегральных схем в процессе производства : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.11.13 / В. С. Барсов, 2001. - 19 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
