• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Бублик, В. Т. Методы исследования материалов и структур электроники.Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский. - М. : Учеба, 2006 (М.). - 92 с. : ил. - Библиогр.: с. 92. - 200 экз. - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Моск. гос. ин-т стали и сплавов, Каф. материаловедения полупроводников

    ГРНТИ УДК
    47.01.77621.38.002.3

    Рубрики:
    Электронные материалы -- Методы исследования

    Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЕ -- МЕТОД -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МАТЕРИАЛ
    Доп. точки доступа:
    Мильвидский, А.М.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-06/20618)

    Шифр в сводном ЭК: b5431d832c457597e0f7702371d85ffb



    Заказ фрагмента документа ₽