• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Huisman, L. M. Data mining and diagnosing IC fails / L. M. Huisman ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2005. - on-line. - (Frontiers in electronic testing ; 31). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b137446. - ISBN 978-0-387-26351-9

    ГРНТИ УДК
    20.53.19004.657
    47.33.31621.3.049.77-048.24

    Рубрики:
    Информационный поиск -- Автоматизация
    Интегральные схемы -- Техническая диагностика

    Доп. точки доступа:
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/b137446


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 004.657/H90-967552)

    Шифр в сводном ЭК: 142d06aa34995ee922b670a49ccc57ad



    Просмотр издания