• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Гатилов, М. А. Мониторинг технического состояния производственных объектов как информационных систем с использованием энтропии покрытия : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.25.05 / М. А. Гатилов. - 2010. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 26 (7 назв.). - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    86.23331.453:004(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар10-18635)

    Шифр в сводном ЭК: 06d39d15e7785f52c778660a58185667



    Заказ фрагмента документа ₽