Полное описание
Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 1. Общая часть. Гл.2,3,4 / ВЦП. - 106 c. : ил. - Пер. материала фирмы: JEM-100CX Electron Microscope : Instructions. Ch. 1. General. Ch.2,3,4 / JEOL Ltd(Япония). - S.a. - P. 1-87. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ 59.35 Рубрики: Кл.слова (ненормированные): ИНСТРУКЦИЯ ПО ЭКСПЛУАТАЦИИ -- МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙ -- МОДЕЛЬ JEM-100CX -- ОПИСАНИЕ -- ФИРМА ДЖЕОЛ -- ЯПОНИЯ Держатели документа:
Шифр в сводном ЭК: 232f46b084f8d28511c75a0e60b01e9f
Шевляков Ф.Б. Анализ структуры потоков в малогабаритных трубчатых турбулентных реакторах / Ф. Б. Шевляков, 2006. - 24 с. - Текст : непосредственный. Тимошенко О.Т. Новая многокомпонентная полупроводниковая система InP-CdS. Ее поверхностные физико-химические свойства / О. Т. Тимошенко, 2006. - 23 с. - Текст : непосредственный. Бастрыкина Н.С. Электрокинетический сорбционно-мембранный микронасос : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. С. Бастрыкина, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Колобова А.В. Исследование и разработка методов метрологического контроля промышленно выпускаемых стандартных образцов состава газовых смесей : специальность 05.11.15 "Метрология и метрологическое обеспечение" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Колобова, 2008. - 23 с. - Текст : непосредственный. Зубков И.Л. Оптический химический сенсор для контроля концентрации аммиака в воздухе : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Л. Зубков, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мордасов М.М. Пневматический контроль вязкости жидких веществ : учеб. пособие. Ч. 1 : Капиллярные методы измерения и устройства их реализации, 2007. - 120 с. - Текст : непосредственный. Лисичкин В.Г. Методы и средства двухпараметрового резонансного контроля свойств веществ и материалов : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. Г. Лисичкин, 2012. - 39 с. - Текст : непосредственный. Грязнов А.Ю. Разработка аппаратурных и методических способов повышения аналитических характеристик энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализатора : специальность 05.27.02 "Вакуумная и плазменная электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Грязнов, 2004. - 16 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы газового анализа : сборник научных трудов / ВНИИ аналитического приборостроения (Киев), 1990. - 163 с. - Текст : непосредственный. Дученко М.О. Влияние водородосодержащих газов на электрические характеристики МДП-структур и МДП-диодов : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / М. О. Дученко, 1998. - 20 с. - Текст : непосредственный. Gnorich A. Elektrische Leitfahigkeit von CeO2 fur resistive Sauerstoffgassensoren / A. Gnorich, 1991. - III,116 S. S. - Текст : непосредственный. Абросимова Е.Б. Амплитудный СВЧ влагомер на основе полосковой линии передачи / Е. Б. Абросимова, С. А. Лабутин, С. М. Никулин, 1996. - 35 с. - Текст : непосредственный. Володько А.В. Разработка математического обеспечения автоматизированной измерительной системы лазерного оптико-акустического газового анализатора : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Володько, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Левченко А.В. Процессы в низкотемпературных суперионных сенсорах H2S : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / А. В. Левченко, 2006. - 23 с. - Текст : непосредственный. Федотов П.С. Разделение микрочастиц и растворимых компонентов природных образцов во вращающихся спиральных колонках: теоретические аспекты и применение в аналитической химии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра. хим. наук / П. С. Федотов, 2006. - 51 с. - Текст : непосредственный. Земцов А.Е. Создание новой полупроводниковой системы GaAs-CdS и изучение ее поверхностных физико-химических свойств : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / А. Е. Земцов, 2004. - 19 с. - Текст : непосредственный. Инструкция по эксплуатации многоканального последовательного пробоотборника CI-298. - 44 c. - Текст : непосредственный. Абрашова Е.В. Золь-гель синтез и анализ нанопористых фрактальных композиций на основе системы ZnO-SnO2 -SiO2 для газочувствительных элементов / Е. В. Абрашова, 2016. - 15 с. - Текст : непосредственный. Комаров И.А. Разработка и исследование тонкопленочных сенсорных структур для химических датчиков на основе углеродных нанотрубок / И. А. Комаров, 2013. - 24 с. - Текст : непосредственный. Сарач О.Б. Создание газовых сенсоров на основе тонких пленок диоксида олова : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / О. Б. Сарач, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik". - 193 c. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Карташев В.А. Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный. Kaczmarek D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych / D.Kaczmarek, 1999. - 110 s. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный. Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный. Gloede W. Vom Lesestein zum Elektronenmikroskop / W.Gloede, 1986. - 248 S. - Текст : непосредственный. Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный. Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 1. Общая часть. Гл.2,3,4 / ВЦП. - 106 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
