Приложение
для AndroidПолное описание
Последовательный рентгеновский спектрометр системы PW 1404 фирмы "Филипс" / ВЦП. - 57 c. : ил. - Пер. материала фирмы: Sequential X-Ray spectrometer system PW 1404. Flexibility and precision in elemental analysis / Philips(Нидерланды). - S.a. - P. 1-18. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ 59.35.35
Рубрики:
Рентгеноспектрометры
Кл.слова (ненормированные): НИДЕРЛАНДЫ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ ФЛЮОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ -- СПЕКТРОМЕТРЫ РЕНТГЕНОВСКИЕ -- ФИРМА ФИЛИПС
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 06935000045)
Шифр в сводном ЭК: 469e46c676e685d4c8f8b470df38f6fb
Инструкция по эксплуатации многоканального последовательного пробоотборника CI-298. - 44 c. - Текст : непосредственный.Опыт применения квантометров для анализа промышленных материалов : Материалы краткосроч. семинара, 17-18 мая / Под ред. Б. Г. Воронова, В. И. Мосичева, 1990. - 85 с. - Текст : непосредственный.Последовательный рентгеновский спектрометр системы PW 1404 фирмы "Филипс" / ВЦП. - 57 c. - Текст : непосредственный.Спектроанализатор JY 70 Plus / ВЦП. - 21 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание атомно-абсорбционного спектрофотометра модели 3030В фирмы Перкин-Элмер. Приложение 4. Инструкция по работе и описание графитового атомизатора HGA-600 / ВЦП. - 84 c. - Текст : непосредственный.Руководство по эксплуатации к системам Спектр AA-10/20 / ВЦП. - 142 c. - Текст : непосредственный.Система Spectr AA-10/20 : Руководство по обслуживанию / ВЦП. - 68 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по эксплуатации. Разд.6-16 / ВЦП. - 126 c. - Текст : непосредственный.Спектрофотометры модели Лямбда-3 / ВЦП. - 76 c. - Текст : непосредственный.Андриянов А.А. Исследование методов измерения влажности и диэлектрической проницаемости материалов на основе зондирования импульсными электромагнитными сигналами : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.11.13 / А. А. Андриянов, 2001. - 15 c. - Текст : непосредственный.Атомно-абсорбционный спектрофотометр модель - 5100 : Справочное руководство. Гл.10. Использование функций / ВЦП. - 345 с. - Текст : непосредственный.
Carr-Brion K. X-ray analysers in process contol / K. Carr-Brion, 1989. - X,161 p. p. - Текст : непосредственный.Универсальный кристалл-дифракционный фокусирующий спектрометр для измерения малых энергетических смещений рентгеновских линий / Э. В. Фомин [и др.], 2004. - 18 с. - Текст : непосредственный.Расчет формы линии и светосилы спектрометра рентгеновского излучения на основе многослойного цилиндрического зеркала / Ю.Л.Лобанова,А.Н.Субботин,В.И.Нагорный,И.А.Гусихина, 2003. - 11 с. - Текст : непосредственный.Многоканальный сцинтилляционный спектрометр рентгеновского излучения для плазмофизического эксперимента / В.В.Аверкиев,М.А.Гулин,А.Н.Долгов и др., 1990. - 18 с. - Текст : непосредственный.Кондурова Л.Н. Программа для расчета параметров отражающих плоскостей кристалла в кристалл-дифракционном спектрометре и для оценки искажений дифракционного спектра вследствие мультидифракции / Л.Н.Кондурова,А.Г.Сергеев, 1995. - 50 c. - Текст : непосредственный.Последовательный рентгеновский спектрометр системы PW 1404 фирмы "Филипс" / ВЦП. - 57 c. - Текст : непосредственный.Анализатор спектров рентгеновского и гамма-излучений на основе CdTe p-i-n детекторов - "Радиант" / А. Х. Хусаинов [и др.], 2015. - 13 с. - Текст : непосредственный.Lenz S. Test und Kalibration eines Kristallspektrometers fur die Untersuchung von Rontgenubergangen in exotischen Atomen : Diss. / S.Lenz, 1996. - V,98 S. S. - Текст : непосредственный.Development of an X-ray spectrometer for high lateral resolution XRF analysis / L.Bonizzoni,C.Cicardi,C.De Martinis и др., 1999. - 11 p. - Текст : непосредственный.Гынгазов Л.Н. Intensity profiles in a polychromatic focus of energy-dispersive X-ray spectrometer / Л.Н.Гынгазов,С.И.Тютюнников, 1997. - 10 p. - Текст : непосредственный.Программно-аппаратурный комплекс для исследования спектров рентгеновских и -излучений, генерируемых релятивистскими электронами в кристаллах / Д.И.Адейшвили,В.Б.Гавриков,И.Ф.Емельянчик и др., 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Кристалл-дифракционный спектрометр для изучения эффекта химического смещения рентгеновских линий в области <мягких> энергий (4+8 кэВ) / А. А. Петрунин [и др.], 2005. - 12 с. - Текст : непосредственный.Анцыферов П.С. An x-ray curved-crystal spectrometer for ebis / П.С.Анцыферов,В.Г.Мовшев, 1990. - 17 p. - Текст : непосредственный.Инструкция по эксплуатации рентгеноспектрометра / ВЦП. - 201 c. - Текст : непосредственный.Руководство по эксплуатации устройства PW-1404/00/10 (автоматический сегментированный спектрометр) / ВЦП. - 232 c. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽