• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Обзоры по электронной технике : обзорная информация / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 - . - В надзаг.Департамент электрон. пром-сти. - Текст : непосредственный.
    Вып. 2(1658) : Перспективы применения лазерного микроанализа в технологии контроля состава локальных областей материалов и узлов ИЭТ : по данным отеч. и заребеж. печати за 1959-1991 гг.) / Н.И.Брагин,Л.А.Сурменко. - 1992. - 28 с. : ил. - Тираж не указ

    Сер.7. Технология, организация производства и оборудование. Библиогр.:с.26-28

    ГРНТИ УДК
    47.13.81621.384.001.4

    Рубрики:
    Электронные приборы -- Технический контроль

    Кл.слова (ненормированные): ТЕХНИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ
    Доп. точки доступа:
    Сурменко, Л.А.
    "Электроника", ин-т (Москва)
    Экз-ры полностью 5016118186a29d613643b767910d6df5
    Нет сведений об экземплярах
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/15125/2(1658))

    Шифр в сводном ЭК: 5016118186a29d613643b767910d6df5



    Заказ фрагмента документа ₽