• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / Р. Андерхальт [и др.]; под ред. У. Жу, Уфнга Ж. Л.; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина; под ред. Т. П. Каминской. - М. : Бином. Лаб. знаний, 2013. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. - S.l., 2006. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35
    31.19543.427.34
    81.13.30620.3

    Рубрики:
    Микроскопия электронная
    Рентгеноспектральный анализ
    Нанотехнологии

    Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
    Доп. точки доступа:
    Андерхальт, Р.
    Анзалоне, П.
    Апкариан, П.Р.
    Борисевич, А.
    Карунту, Д.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-13/54303)

    Шифр в сводном ЭК: e2ada9498593e6bd11ad700d394bf91f



    Заказ фрагмента документа ₽