• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Интерферометрическое исследование толстой пленки в критическом режиме. - 8 c. : ил. - англ. - Пер.ст. Interferometric studies of thick film critical behavior из сб.: // Light scattering in solids. - New York, 1979. - P.39-46. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:10 назв.
    ГРНТИ 29.17

    Рубрики:
    Жидкие пленки

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 95/227)

    Шифр в сводном ЭК: e116e516b48a8d4f677066621dffb333



    Заказ фрагмента документа ₽