• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Скорская, О. Л. Методы и средства аналитического контроля материалов. Атомно-эмиссионный спектральный анализ : учеб. пособие / О. Л. Скорская, В. А. Филичкина ; Нац. исслед. технол. ун-т "МИСиС", Каф. сертификации и аналит. контроля. - М. : МИСИС, 2015. - 53 с. : ил. - Библиогр.: с. 50. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    31.19.03543.423

    Рубрики:
    Спектральный анализ атомно-эмиссионный

    Доп. точки доступа:
    Филичкина, В.А.
    Национальный исследовательский технологический ун-т "МИСиС" (Москва). Кафедра сертификации и аналитического контроля

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-15/23127)

    Шифр в сводном ЭК: 64c34510206fde1a0331ba4ab421e608



    Заказ фрагмента документа ₽