Полное описание

Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов / А. А. Клопотов [и др.] ; Томский политехнический ун-т. - Томск : Изд-во ТПУ, 2013. - 263 с. : ил. - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 262-263 (34 назв.). - 300 экз. - ISBN 978-5-4387-0197-2. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Нац. исслед. Том. политехн. ун-т, Том. гос. архитектур.-строит. ун-т, Сиб. физ.-техн. ин-т им. В. Д. Кузнецова Том. гос. ун-та.

ГРНТИ	УДК
29.19.19	548.73

Рубрики:
Рентгеноструктурный анализ

Доп. точки доступа:
Клопотов, А.А.
Абзаев, Ю.А.
Потекаев, А.И.
Волокитин, О.Г.
Клопотов, В.Д.
Томский политехнический ун-т

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-13/3137)

Шифр в сводном ЭК: 4b53f626f68147ad26ec265a7ebdc739

Заказать
Заказ фрагмента документа ₽