Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Лев Ф.М. Relativistic quantum mechanics and its applications to few-nucleon systems / Ф. М. Лев, 1993. - 153 p. - Текст : непосредственный.Bellone E. Models in the history of physics / E. Bellone, G. Bruzzaniti, 1992. - 27 p. - Текст : непосредственный.Valkovic V. The use of synchrotron radiation for trace element analysis of biomedical samples / V. Valkovic, G. Moschini, 1993. - 55 p. - Текст : непосредственный.Taxil P. Physics with polarized beams at future colliders / P. Taxil, 1993. - 71 p. - Текст : непосредственный.Casali F. Advanced imaging techniques: a new deal for neutron physics / F. Casali, P. Chirco, M. Zanarini, 1995. - 69 p. - Текст : непосредственный.Fano U. Quantum mechanics: then and since / U. Fano, 1995. - 39 p. - Текст : непосредственный.Lopez-Arias M.T. From regular to choatic states in atomic nuclei / M. T. Lopez-Arias, V. R. Manfredi, L. Salashich, 1994. - 45 p. - Текст : непосредственный.Cremonesi O. Solar neutrinos / O. Cremonesi, 1993. - 141 p. - Текст : непосредственный.Bendiscioli G. Antinucleon-nucleon and antinucleon-nucleus interaction.A review of experimental data / G. Bendiscioli, D. Kharzeev, 1994. - 142 p. - Текст : непосредственный.Varani L. Microscopic theory of electronic noise in semiconductor unipolar structures / L. Varani, L. Reggiani, 1994. - 110 p. - Текст : непосредственный.Braglia G.L. Teoria del trasporto elettronico in gas: processi di rilassamento / G. L. Braglia, 1995. - 162 p. - Текст : непосредственный.
Busch P. The complementarity of quantum observables:theory and experiments / P.Busch,P.J.Lahti, 1995. - 27 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Михнов С.А. Особенности спектроскопии необлученных и гамма-облученных щелочно-галоидных кристаллов. 1 / С. А. Михнов, 1990. - 48 с. - Текст : непосредственный.Михнов С.А. Особенности спектроскопии необлученных и гамма-облученных щелочно-галоидных кристаллов. Ч.2 / С. А. Михнов, 1990. - 34 с. - Текст : непосредственный.Яшков Д.А. Исследование методов обработки интерферограмм фурье-спектрометра для повышения точности спектрометрической информации : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Д. А. Яшков, 1998. - 21 с. - Текст : непосредственный.Летохов В.С. Лазерная спектроскопия колебательно-возбужденных молекул / В. С. Летохов, В. С. Летохов, Е. А. Рябов, А. А. Макаров, 1990. - 278 c. - Текст : непосредственный.Понуровский Я.Я. Прецизионные измерения контура спектральной линии методами диодной лазерной спектроскопии : специальность 01.04.21 "Лазерная физика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Я. Я. Понуровский, 2000. - 22 с. - Текст : непосредственный.Stenzel O. The physics of thin film optical spectra / O. Stenzel, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Neutron and x-ray spectroscopy / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineTime-resolved spectroscopy in complex liquids / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-lineМадвалиев Умархон.Разработка новых методов фотоакустической спектроскопии конденсированных сред : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Мадвалиев Умархон, 2007. - 44 с. - Текст : непосредственный.Дацко В.С. Фильтрация спектрометрических сигналов с помощью преобразования Фурье / В. С. Дацко, 1993. - 13 с. - Текст : непосредственный.Проблемы спектроскопии и спектрометрии : вуз.-акад. период. сб. науч. тр. / Урал. федер. ун-т им. первого Президента России Б. Н. Ельцина. Вып. 35, 2016. - 168 с. - Текст : непосредственный.Митюрич Г.С. Фотоакустическая спектроскопия гиротропных сред : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Г. С. Митюрич, 1997. - 32 с. - Текст : непосредственный.Денисов И.П. Спектральные измерения : выставочные материалы / И. П. Денисов, 2010. - 82 с. - Текст : непосредственный.Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Мазалов Л.Н. Рентгеновские спектры / Л. Н. Мазалов, 2003. - 328 с. - Текст : непосредственный.Андреев В.П. Основы спектроскопии : выставочные материалы / В. П. Андреев, П. С. Соболев, 2015. - 62 с. - Текст : непосредственный.Сурин Л.А. Высокочувствительный внутрирезонаторный микроволновый спектрометр на базе оротрона : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Л. А. Сурин, 1996. - 19 с. - Текст : непосредственный.Кривосенко Ю.С. Влияние динамики ядерной подсистемы на рентгеновские спектры простых молекул и слоистых систем / Ю. С. Кривосенко, 2013. - 16 с. - Текст : непосредственный.Балашов А.А. Разработка и создание Фурье-спектрометров непрерывного сканирования : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / А. А. Балашов, 2005. - 46 с. - Текст : непосредственный.Бичуцкая Е.Н. Оптические и неадиабатические переходы в квазимолекулах Ca - He, Mg - He : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Е. Н. Бичуцкая, 2000. - 22 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыТронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.
Петров В.Н. Электронная оже-спектроскопия с разрешением по спину : учеб. пособие / В. Н. Петров, 2011. - 75 с. - Текст : непосредственный.Петренко А.З. Программное обеспечение для оже-электронной спектроскопии. Программа PROFILE v.1.01 / А.З.Петренко,И.П.Петренко, 1994. - 21 c. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 9(1534) : Технологическое применение электронной оже-спектроскопии : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / Е.В.Мальнева,А.А.Свентицкий, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный.Scanning auger electron microscopy / Ed.: M. Prutton, M. El Gomati, 2006. - XVII, 368 p. - Текст : непосредственный.Wustenhagen V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen, 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный.Inzynieria materialowa : pr. naukowe / Politechnika Warszawska. z. 29 : Spektroskopia elektronowa AES jako narzedzie analityczno-diagnostyczne w inzynierii materialowej / M. Pisarek, 2013. - 97 s. - Текст : непосредственный.Valeri S. Auger electron spectroscopy for structural studies / S.Valeri,A.Di Bona, 1993. - 73 p. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.
Петров В.Н. Электронная оже-спектроскопия с разрешением по спину : учеб. пособие / В. Н. Петров, 2011. - 75 с. - Текст : непосредственный.Петренко А.З. Программное обеспечение для оже-электронной спектроскопии. Программа PROFILE v.1.01 / А.З.Петренко,И.П.Петренко, 1994. - 21 c. - Текст : непосредственный.Auger spectroscopy and electronic structure : Proc.of the first intern. workshop, Messina Sept.10- 14, 1988 / Ed. G. Gubiotti, 1989. - X, 277 p. 277 p. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 9(1534) : Технологическое применение электронной оже-спектроскопии : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / Е.В.Мальнева,А.А.Свентицкий, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный.Scanning auger electron microscopy / Ed.: M. Prutton, M. El Gomati, 2006. - XVII, 368 p. - Текст : непосредственный.Wustenhagen V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen, 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный.Inzynieria materialowa : pr. naukowe / Politechnika Warszawska. z. 29 : Spektroskopia elektronowa AES jako narzedzie analityczno-diagnostyczne w inzynierii materialowej / M. Pisarek, 2013. - 97 s. - Текст : непосредственный.Valeri S. Auger electron spectroscopy for structural studies / S.Valeri,A.Di Bona, 1993. - 73 p. - Текст : непосредственный.Дронова, Дарья Алексеевна. Комплекс методик анализа профильного распределения химического состава по глубине нанообъектов и тонких пленок методами оже-спектроскопии и времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии : специальность 2.6.6. Нанотехнологии и наноматериалы: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Дронова Дарья Алексеевна, 2023. - 33 с. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽